SAR成像技术:从天线波束跟踪到双基地成像
1. 天线波束跟踪
在合成孔径雷达(SAR)图像模拟中,辐射和几何保真度都应尽可能保留。在辐射方面,计算被成像目标的散射场时,必须考虑方位天线角度。如图所示,$c$ 是中心方位位置,1 和 2 分别表示 SAR 在合成孔径过程中的初始和最终位置。对于任意天线指向方向,$\varPhi$ 测量单个足迹内覆盖目标区域的方位角,而 $\varPhi’$ 表示从天线波束中心到目标中心的方位角。在射线追踪中,需要处理被照射目标内的多条射线。
在圆形和聚束式 SAR 数据采集模式中,由于观测区域限于单个足迹,因此只涉及单个足迹。但条带式模式不同,它使用推扫式方法在方位方向获取更广泛的数据。为使模拟更真实,条带式模式需要进行修改。当 SAR 移动到任意方位位置时,方位天线扫描角受以下公式限制:
[
\theta_{i_{scan}} = \min(\theta_{i_{3dB}}, \theta_{i_{target}}), [azimuth, range]
]
其中,$\theta_{i_{3dB}}$ 和 $\theta_{i_{target}}$ 分别是天线 3dB 波束宽度和目标的覆盖角,计算散射场时需要对其进行估计。同时,$\theta_{i_{scan}}$ 也受斜视角度效应 $\theta_{sq}$ 的影响。同样,应沿斜距估计覆盖角,以便对任意大小的目标进行图像模拟。
2. 模拟示例
假设 SAR 系统沿 $y$ 方向移动,地面距离沿 $x$ 方向。那么,SAR 在远场距离 $R$ 处沿 $y$ 方向接收到的散射场可表示为:
[
E_s(R, t, \
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