6.3 按键驱动
系统设计了一个校准按键,用于进入 / 退出校准模式和确认操作。以下是按键驱动的实现:
按键驱动代码key.c
V1
#include "key.h"
#include "rtthread.h"
#include "rtdevice.h"
// 按键引脚定义
#define KEY_PIN GET_PIN(C, 13)
// 按键状态枚举
typedef enum
{
KEY_STATE_RELEASED = 0, // 释放
KEY_STATE_PRESSED, // 按下
KEY_STATE_LONG_PRESSED // 长按
} key_state_t;
// 按键事件枚举
typedef enum
{
KEY_EVENT_NONE = 0, // 无事件
KEY_EVENT_PRESS, // 短按事件
KEY_EVENT_LONG_PRESS // 长按事件
} key_event_t;
// 按键配置参数
#define KEY_LONG_PRESS_TIME 2000 // 长按判断时间(ms)
#define KEY_SCAN_INTERVAL 50 // 扫描间隔(ms)
#define KEY_DEBOUNCE_TIME 50 // 消抖时间(ms)
// 按键状态变量
static struct
{
key_state_t state; // 当前状态
uint32_t press_start_time; // 按下开始时间
uint32_t last_state_change; // 最后一次状态变化时间
uint8_t raw_state; // 原始状态
key_event_t event; // 按键事件
} key_info = {
.state = KEY_STATE_RELEASED,
.press_start_time = 0,
.last_state_change = 0,
.raw_state = 1, // 初始为释放状态(上拉)
.event = KEY_EVENT_NONE
};
// 按键事件消息队列
static struct rt_messagequeue key_mq;
static uint8_t mq_buffer[32]; // 消息队列缓冲区
/**
* @brief 按键扫描函数
* @return 按键事件
*/
static key_event_t key_scan(void)
{
uint8_t current_raw_state;
uint32_t current_time = rt_tick_get_millisecond();
key_event_t current_event = KEY_EVENT_NONE;
// 读取原始引脚状态(按键按下为低电平)
current_raw_state = rt_pin_read(KEY_PIN);
// 检查状态是否变化,且超过消抖时间
if (current_raw_state != key_info.raw_state &&
(current_time - key_info.last_state_change) > KEY_DEBOUNCE_TIME)
{
// 更新原始状态和时间
key_info.raw_state = current_raw_state;
key_info.last_state_change = current_time;
// 状态变化处理
if (current_raw_state == 0) // 按键按下
{
key_info.state = KEY_STATE_PRESSED;
key_info.press_start_time = current_time;
}
else // 按键释放
{
// 判断是短按还是长按
if (key_info.state == KEY_STATE_LONG_PRESSED)
{
current_event = KEY_EVENT_LONG_PRESS;
}
else if (key_info.state == KEY_STATE_PRESSED)
{
current_event = KEY_EVENT_PRESS;
}
key_info.state = KEY_STATE_RELEASED;
}
}
else
{
// 状态未变化,检查长按
if (key_info.state == KEY_STATE_PRESSED &&
(current_time - key_info.press_start_time) > KEY_LONG_PRESS_TIME)
{
key_info.state = KEY_STATE_LONG_PRESSED;
}
}
return current_event;
}
/**
* @brief 按键处理线程
* @param parameter 线程参数
*/
static void key_thread(void *parameter)
{
key_event_t event;
while (1)
{
// 扫描按键
event = key_scan();
// 如果有事件,发送到消息队列
if (event != KEY_EVENT_NONE)
{
rt_mq_send(&key_mq, &event, sizeof(event));
}
// 延时扫描间隔
rt_thread_mdelay(KEY_SCAN_INTERVAL);
}
}
/**
* @brief 初始化按键
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int key_init(void)
{
rt_err_t ret;
// 配置按键引脚为输入模式(上拉)
rt_pin_mode(KEY_PIN, PIN_MODE_INPUT_PULLUP);
// 初始化消息队列
ret = rt_mq_init(&key_mq, "key_mq",
mq_buffer, sizeof(key_event_t),
sizeof(mq_buffer), RT_IPC_FLAG_FIFO);
if (ret != RT_EOK)
{
rt_kprintf("Failed to initialize key message queue\n");
return -1;
}
// 创建按键处理线程
rt_thread_t thread = rt_thread_create("key",
key_thread,
RT_NULL,
512,
5,
10);
if (thread != RT_NULL)
{
rt_thread_startup(thread);
}
else
{
rt_kprintf("Failed to create key thread\n");
rt_mq_detach(&key_mq);
return -1;
}
rt_kprintf("Key driver initialized successfully\n");
return 0;
}
/**
* @brief 获取按键事件
* @param event 存储事件的指针
* @param timeout 超时时间(ms)
* @return 0: 成功获取事件, -1: 超时或失败
*/
int key_get_event(key_event_t *event, int32_t timeout)
{
if (event == RT_NULL)
return -1;
return rt_mq_recv(&key_mq, event, sizeof(key_event_t), timeout);
}
// 导出初始化函数
INIT_DEVICE_EXPORT(key_init);
按键驱动头文件
V1
#ifndef __KEY_H
#define __KEY_H
#include <rtthread.h>
// 按键事件枚举
typedef enum
{
KEY_EVENT_NONE = 0, // 无事件
KEY_EVENT_PRESS, // 短按事件
KEY_EVENT_LONG_PRESS // 长按事件
} key_event_t;
/**
* @brief 初始化按键
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int key_init(void);
/**
* @brief 获取按键事件
* @param event 存储事件的指针
* @param timeout 超时时间(ms)
* @return 0: 成功获取事件, -1: 超时或失败
*/
int key_get_event(key_event_t *event, int32_t timeout);
#endif /* __KEY_H */
7. 应用程序设计
7.1 应用程序总体设计
应用程序是基于前面开发的各个驱动模块,实现电机测试工装的核心功能。主要包括:
- 实时采集电机参数(电压、电流、转速、圈数)
- 在 OLED 屏上以数码管风格显示这些参数
- 支持参数校准功能
- 支持设备 ID 显示
- 保存校准参数到 Flash
应用程序采用 RT-Thread 的多任务机制,将不同功能划分为独立的任务,通过消息队列和共享内存进行通信。
7.2 数据结构设计
定义以下数据结构来存储系统运行时的数据:
应用程序数据结构
V1
#ifndef __APP_DATA_H
#define __APP_DATA_H
#include <rtthread.h>
// 电机参数结构体
struct motor_params
{
float voltage; // 母线电压(V)
float current; // 工作电流(A)
uint32_t speed; // 转速(RPM)
float revolutions; // 转动圈数
float calib_revolutions; // 校准总圈数
uint8_t device_id; // 设备ID
};
// 校准参数结构体
struct calibration_params
{
float voltage_offset; // 电压偏移量(V)
float voltage_scale; // 电压比例系数
float current_offset; // 电流偏移量(A)
float current_scale; // 电流比例系数
uint8_t device_id; // 设备ID
uint32_t encoder_ppr; // 编码器每圈脉冲数
};
// 系统状态结构体
struct system_state
{
uint8_t in_calibration; // 是否在校准模式(0=正常, 1=校准)
uint8_t calib_item; // 当前校准项目(0=电压, 1=电流, 2=编码器)
uint8_t updated; // 数据更新标志
rt_mutex_t data_mutex; // 数据访问互斥锁
};
// 初始化电机参数
void motor_params_init(struct motor_params *params);
// 初始化校准参数为默认值
void calibration_params_init(struct calibration_params *calib);
// 初始化系统状态
int system_state_init(struct system_state *state);
#endif /* __APP_DATA_H */
应用程序数据结构实现
V1
#include "app_data.h"
/**
* @brief 初始化电机参数
* @param params 电机参数结构体指针
*/
void motor_params_init(struct motor_params *params)
{
if (params != RT_NULL)
{
params->voltage = 0.0f;
params->current = 0.0f;
params->speed = 0;
params->revolutions = 0.0f;
params->calib_revolutions = 0.0f;
params->device_id = 0;
}
}
/**
* @brief 初始化校准参数为默认值
* @param calib 校准参数结构体指针
*/
void calibration_params_init(struct calibration_params *calib)
{
if (calib != RT_NULL)
{
calib->voltage_offset = 0.0f;
calib->voltage_scale = 1.0f;
calib->current_offset = 0.0f;
calib->current_scale = 1.0f;
calib->device_id = 1; // 默认设备ID为1
calib->encoder_ppr = 1000; // 默认每圈1000脉冲
}
}
/**
* @brief 初始化系统状态
* @param state 系统状态结构体指针
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int system_state_init(struct system_state *state)
{
if (state == RT_NULL)
return -1;
state->in_calibration = 0;
state->calib_item = 0;
state->updated = 0;
// 初始化互斥锁
state->data_mutex = rt_mutex_create("data_mutex", RT_IPC_FLAG_FIFO);
if (state->data_mutex == RT_NULL)
{
rt_kprintf("Failed to create data mutex\n");
return -1;
}
return 0;
}
7.3 任务设计与实现
7.3.1 参数采集任务
参数采集任务负责周期性地从传感器采集电机参数,并更新到共享内存中。
参数采集任务
V1
#include "data_collector.h"
#include "voltage_current.h"
#include "encoder.h"
#include "app_data.h"
#include "rtthread.h"
// 任务配置
#define COLLECTOR_TASK_PRIORITY 8
#define COLLECTOR_TASK_STACK_SIZE 1024
#define COLLECTOR_TASK_TIMESLICE 10
#define COLLECT_INTERVAL 100 // 采集间隔(ms)
// 全局数据指针
static struct motor_params *motor_params = RT_NULL;
static struct system_state *system_state = RT_NULL;
/**
* @brief 参数采集任务入口
* @param parameter 任务参数
*/
static void collector_task_entry(void *parameter)
{
rt_err_t ret;
while (1)
{
// 检查是否有数据指针
if (motor_params == RT_NULL || system_state == RT_NULL)
{
rt_thread_mdelay(COLLECT_INTERVAL);
continue;
}
// 上锁保护数据访问
ret = rt_mutex_take(system_state->data_mutex, RT_WAITING_FOREVER);
if (ret == RT_EOK)
{
// 采集电压
read_motor_voltage(&motor_params->voltage);
// 采集电流
read_motor_current(&motor_params->current);
// 采集转速
encoder_get_speed(&motor_params->speed);
// 采集圈数
encoder_get_revolutions(&motor_params->revolutions);
// 设置数据更新标志
system_state->updated = 1;
// 解锁
rt_mutex_release(system_state->data_mutex);
}
// 延时等待下一次采集
rt_thread_mdelay(COLLECT_INTERVAL);
}
}
/**
* @brief 初始化参数采集任务
* @param params 电机参数结构体指针
* @param state 系统状态结构体指针
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int data_collector_init(struct motor_params *params, struct system_state *state)
{
if (params == RT_NULL || state == RT_NULL)
{
rt_kprintf("Invalid parameters for data collector initialization\n");
return -1;
}
// 保存数据指针
motor_params = params;
system_state = state;
// 创建采集任务
rt_thread_t thread = rt_thread_create("collector",
collector_task_entry,
RT_NULL,
COLLECTOR_TASK_STACK_SIZE,
COLLECTOR_TASK_PRIORITY,
COLLECTOR_TASK_TIMESLICE);
if (thread != RT_NULL)
{
rt_thread_startup(thread);
rt_kprintf("Data collector task initialized successfully\n");
return 0;
}
else
{
rt_kprintf("Failed to create data collector task\n");
return -1;
}
}
参数采集任务头文件
V1
#ifndef __DATA_COLLECTOR_H
#define __DATA_COLLECTOR_H
#include "app_data.h"
/**
* @brief 初始化参数采集任务
* @param params 电机参数结构体指针
* @param state 系统状态结构体指针
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int data_collector_init(struct motor_params *params, struct system_state *state);
#endif /* __DATA_COLLECTOR_H */
7.3.2 显示更新任务
显示更新任务负责从共享内存中读取电机参数,并在 OLED 屏上以数码管风格显示。
显示更新任务
V1
#include "display_task.h"
#include "u8g2.h"
#include "u8g2_init.h"
#include "digit_display.h"
#include "app_data.h"
#include "rtthread.h"
// 任务配置
#define DISPLAY_TASK_PRIORITY 6
#define DISPLAY_TASK_STACK_SIZE 2048
#define DISPLAY_TASK_TIMESLICE 10
#define DISPLAY_UPDATE_INTERVAL 200 // 显示更新间隔(ms)
// 全局数据指针
static struct motor_params *motor_params = RT_NULL;
static struct system_state *system_state = RT_NULL;
static struct calibration_params *calib_params = RT_NULL;
// 显示区域定义
#define AREA_VOLTAGE_X 0
#define AREA_VOLTAGE_Y 30
#define AREA_CURRENT_X 0
#define AREA_CURRENT_Y 60
#define AREA_SPEED_X 70
#define AREA_SPEED_Y 30
#define AREA_REVOLUTIONS_X 70
#define AREA_REVOLUTIONS_Y 60
#define AREA_ID_X 100
#define AREA_ID_Y 12
/**
* @brief 绘制正常模式界面
*/
static void draw_normal_screen(void)
{
u8g2_t *u8g2 = u8g2_get_instance();
rt_err_t ret;
struct motor_params local_params;
// 上锁读取数据
ret = rt_mutex_take(system_state->data_mutex, RT_WAITING_FOREVER);
if (ret == RT_EOK)
{
// 复制数据到本地
local_params = *motor_params;
// 清除更新标志
system_state->updated = 0;
// 解锁
rt_mutex_release(system_state->data_mutex);
}
else
{
return;
}
// 清屏
u8g2_ClearBuffer(u8g2);
// 绘制标题和单位
u8g2_SetFont(u8g2, u8g2_font_ncenB10_tr);
u8g2_DrawStr(u8g2, 0, 12, "V:");
u8g2_DrawStr(u8g2, 0, 42, "A:");
u8g2_DrawStr(u8g2, 70, 12, "RPM:");
u8g2_DrawStr(u8g2, 70, 42, "圈数:");
u8g2_DrawStr(u8g2, 80, 12, "ID:");
// 绘制设备ID
draw_integer(AREA_ID_X, AREA_ID_Y, local_params.device_id, 2, 0);
// 绘制电压(2位整数, 1位小数)
draw_number_with_decimal(AREA_VOLTAGE_X + 15, AREA_VOLTAGE_Y,
local_params.voltage, 2, 1, 1);
// 绘制电流(1位整数, 2位小数)
draw_number_with_decimal(AREA_CURRENT_X + 15, AREA_CURRENT_Y,
local_params.current, 1, 2, 1);
// 绘制转速(4位整数)
draw_integer(AREA_SPEED_X + 35, AREA_SPEED_Y, local_params.speed, 4, 1);
// 绘制圈数(4位整数, 1位小数)
draw_number_with_decimal(AREA_REVOLUTIONS_X + 35, AREA_REVOLUTIONS_Y,
local_params.revolutions, 4, 1, 1);
// 刷新显示
u8g2_SendBuffer(u8g2);
}
/**
* @brief 绘制校准模式界面
*/
static void draw_calibration_screen(void)
{
u8g2_t *u8g2 = u8g2_get_instance();
rt_err_t ret;
struct motor_params local_params;
// 上锁读取数据
ret = rt_mutex_take(system_state->data_mutex, RT_WAITING_FOREVER);
if (ret == RT_EOK)
{
// 复制数据到本地
local_params = *motor_params;
// 清除更新标志
system_state->updated = 0;
// 解锁
rt_mutex_release(system_state->data_mutex);
}
else
{
return;
}
// 清屏
u8g2_ClearBuffer(u8g2);
// 绘制校准模式标题
u8g2_SetFont(u8g2, u8g2_font_ncenB10_tr);
u8g2_DrawStr(u8g2, 0, 12, "校准模式");
// 根据当前校准项目绘制不同内容
switch (system_state->calib_item)
{
case 0: // 电压校准
u8g2_DrawStr(u8g2, 0, 30, "电压校准:");
draw_number_with_decimal(50, 30, local_params.voltage, 2, 1, 1);
u8g2_DrawStr(u8g2, 100, 30, "V");
u8g2_DrawStr(u8g2, 0, 50, "短按:校准 长按:退出");
break;
case 1: // 电流校准
u8g2_DrawStr(u8g2, 0, 30, "电流校准:");
draw_number_with_decimal(50, 30, local_params.current, 1, 2, 1);
u8g2_DrawStr(u8g2, 100, 30, "A");
u8g2_DrawStr(u8g2, 0, 50, "短按:校准 长按:退出");
break;
case 2: // 编码器校准
u8g2_DrawStr(u8g2, 0, 30, "编码器校准:");
draw_integer(70, 30, calib_params->encoder_ppr, 4, 1);
u8g2_DrawStr(u8g2, 0, 50, "短按:重置 长按:退出");
break;
case 3: // 设备ID设置
u8g2_DrawStr(u8g2, 0, 30, "设备ID:");
draw_integer(50, 30, local_params.device_id, 2, 1);
u8g2_DrawStr(u8g2, 0, 50, "短按:增加 长按:退出");
break;
}
// 刷新显示
u8g2_SendBuffer(u8g2);
}
/**
* @brief 显示更新任务入口
* @param parameter 任务参数
*/
static void display_task_entry(void *parameter)
{
while (1)
{
// 检查是否有数据指针
if (motor_params == RT_NULL || system_state == RT_NULL || calib_params == RT_NULL)
{
rt_thread_mdelay(DISPLAY_UPDATE_INTERVAL);
continue;
}
// 根据系统状态绘制不同界面
if (system_state->in_calibration)
{
draw_calibration_screen();
}
else
{
draw_normal_screen();
}
// 延时等待下一次更新
rt_thread_mdelay(DISPLAY_UPDATE_INTERVAL);
}
}
/**
* @brief 初始化显示更新任务
* @param params 电机参数结构体指针
* @param state 系统状态结构体指针
* @param calib 校准参数结构体指针
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int display_task_init(struct motor_params *params, struct system_state *state,
struct calibration_params *calib)
{
if (params == RT_NULL || state == RT_NULL || calib == RT_NULL)
{
rt_kprintf("Invalid parameters for display task initialization\n");
return -1;
}
// 保存数据指针
motor_params = params;
system_state = state;
calib_params = calib;
// 创建显示任务
rt_thread_t thread = rt_thread_create("display",
display_task_entry,
RT_NULL,
DISPLAY_TASK_STACK_SIZE,
DISPLAY_TASK_PRIORITY,
DISPLAY_TASK_TIMESLICE);
if (thread != RT_NULL)
{
rt_thread_startup(thread);
rt_kprintf("Display task initialized successfully\n");
return 0;
}
else
{
rt_kprintf("Failed to create display task\n");
return -1;
}
}
显示更新任务头文件
V1
#ifndef __DISPLAY_TASK_H
#define __DISPLAY_TASK_H
#include "app_data.h"
/**
* @brief 初始化显示更新任务
* @param params 电机参数结构体指针
* @param state 系统状态结构体指针
* @param calib 校准参数结构体指针
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int display_task_init(struct motor_params *params, struct system_state *state,
struct calibration_params *calib);
#endif /* __DISPLAY_TASK_H */
7.3.3 校准管理任务
校准管理任务负责处理校准逻辑,响应校准命令,更新校准参数。
校准管理任务
V1
#include "calibration_task.h"
#include "voltage_current.h"
#include "encoder.h"
#include "key.h"
#include "app_data.h"
#include "data_storage.h"
#include "rtthread.h"
// 任务配置
#define CALIB_TASK_PRIORITY 7
#define CALIB_TASK_STACK_SIZE 1024
#define CALIB_TASK_TIMESLICE 10
// 全局数据指针
static struct motor_params *motor_params = RT_NULL;
static struct system_state *system_state = RT_NULL;
static struct calibration_params *calib_params = RT_NULL;
/**
* @brief 执行电压校准
*/
static void calibrate_voltage(void)
{
float current_voltage;
// 读取当前电压(应连接已知参考电压)
read_motor_voltage(¤t_voltage);
// 假设此时实际电压为0V(短接输入),计算偏移量
calib_params->voltage_offset = current_voltage;
// 保存校准参数
data_storage_save_calibration(calib_params);
// 更新电压校准参数
set_voltage_calibration(calib_params->voltage_offset, calib_params->voltage_scale);
rt_kprintf("Voltage calibration completed: offset=%.3f\n", calib_params->voltage_offset);
}
/**
* @brief 执行电流校准
*/
static void calibrate_current(void)
{
float current_current;
// 读取当前电流(应确保电机未工作,电流为0)
read_motor_current(¤t_current);
// 计算偏移量(此时实际电流应为0A)
calib_params->current_offset = current_current;
// 保存校准参数
data_storage_save_calibration(calib_params);
// 更新电流校准参数
set_current_calibration(calib_params->current_offset, calib_params->current_scale);
rt_kprintf("Current calibration completed: offset=%.3f\n", calib_params->current_offset);
}
/**
* @brief 执行编码器校准
*/
static void calibrate_encoder(void)
{
// 重置编码器计数
encoder_reset_count();
// 更新电机参数中的圈数
if (motor_params != RT_NULL)
{
motor_params->revolutions = 0.0f;
}
rt_kprintf("Encoder calibration completed: count reset\n");
}
/**
* @brief 增加设备ID
*/
static void increment_device_id(void)
{
if (motor_params != NULL && calib_params != NULL)
{
// 设备ID范围1-255
calib_params->device_id++;
if (calib_params->device_id == 0)
calib_params->device_id = 1;
motor_params->device_id = calib_params->device_id;
// 保存校准参数
data_storage_save_calibration(calib_params);
rt_kprintf("Device ID updated to: %d\n", calib_params->device_id);
}
}
/**
* @brief 校准管理任务入口
* @param parameter 任务参数
*/
static void calibration_task_entry(void *parameter)
{
key_event_t event;
int ret;
while (1)
{
// 检查是否有数据指针
if (motor_params == RT_NULL || system_state == RT_NULL || calib_params == RT_NULL)
{
rt_thread_mdelay(50);
continue;
}
// 如果不在校准模式,等待长按事件进入校准模式
if (!system_state->in_calibration)
{
ret = key_get_event(&event, RT_WAITING_FOREVER);
if (ret == RT_EOK && event == KEY_EVENT_LONG_PRESS)
{
rt_kprintf("Entering calibration mode\n");
system_state->in_calibration = 1;
system_state->calib_item = 0; // 默认从电压校准开始
}
}
else
{
// 在校准模式下,处理按键事件
ret = key_get_event(&event, RT_WAITING_FOREVER);
if (ret == RT_EOK)
{
switch (event)
{
case KEY_EVENT_PRESS:
// 短按:执行当前项目校准或切换项目
rt_kprintf("Calibration item %d pressed\n", system_state->calib_item);
switch (system_state->calib_item)
{
case 0: // 电压校准
calibrate_voltage();
// 切换到下一个校准项目
system_state->calib_item = 1;
break;
case 1: // 电流校准
calibrate_current();
// 切换到下一个校准项目
system_state->calib_item = 2;
break;
case 2: // 编码器校准
calibrate_encoder();
// 切换到下一个校准项目
system_state->calib_item = 3;
break;
case 3: // 设备ID设置
increment_device_id();
// 循环回到第一个校准项目
system_state->calib_item = 0;
break;
default:
system_state->calib_item = 0;
break;
}
break;
case KEY_EVENT_LONG_PRESS:
// 长按:退出校准模式
rt_kprintf("Exiting calibration mode\n");
system_state->in_calibration = 0;
break;
default:
break;
}
}
}
}
}
/**
* @brief 初始化校准管理任务
* @param params 电机参数结构体指针
* @param state 系统状态结构体指针
* @param calib 校准参数结构体指针
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int calibration_task_init(struct motor_params *params, struct system_state *state,
struct calibration_params *calib)
{
if (params == RT_NULL || state == RT_NULL || calib == RT_NULL)
{
rt_kprintf("Invalid parameters for calibration task initialization\n");
return -1;
}
// 保存数据指针
motor_params = params;
system_state = state;
calib_params = calib;
// 创建校准任务
rt_thread_t thread = rt_thread_create("calibration",
calibration_task_entry,
RT_NULL,
CALIB_TASK_STACK_SIZE,
CALIB_TASK_PRIORITY,
CALIB_TASK_TIMESLICE);
if (thread != RT_NULL)
{
rt_thread_startup(thread);
rt_kprintf("Calibration task initialized successfully\n");
return 0;
}
else
{
rt_kprintf("Failed to create calibration task\n");
return -1;
}
}
校准管理任务头文件
V1
#ifndef __CALIBRATION_TASK_H
#define __CALIBRATION_TASK_H
#include "app_data.h"
/**
* @brief 初始化校准管理任务
* @param params 电机参数结构体指针
* @param state 系统状态结构体指针
* @param calib 校准参数结构体指针
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int calibration_task_init(struct motor_params *params, struct system_state *state,
struct calibration_params *calib);
#endif /* __CALIBRATION_TASK_H */
7.4 数据存储模块
数据存储模块负责将校准参数保存到 Flash 中,以便系统重启后仍能使用之前的校准参数。
数据存储模块data_storage.c
V1
#include "data_storage.h"
#include "app_data.h"
#include "rtthread.h"
#include "gd32f30x.h"
#include <string.h>
// Flash存储配置
#define FLASH_PAGE_SIZE 1024 // 每页大小(字节)
#define CALIB_DATA_PAGE 63 // 存储校准数据的页(最后一页)
#define FLASH_BASE_ADDR 0x08000000 // Flash基地址
#define CALIB_DATA_ADDR (FLASH_BASE_ADDR + CALIB_DATA_PAGE * FLASH_PAGE_SIZE)
// 数据校验结构体
typedef struct
{
struct calibration_params data;
uint32_t checksum; // 校验和
} calib_data_with_checksum;
/**
* @brief 计算校验和
* @param data 数据指针
* @param len 数据长度
* @return 校验和
*/
static uint32_t calculate_checksum(const void *data, uint32_t len)
{
const uint8_t *bytes = (const uint8_t *)data;
uint32_t checksum = 0;
uint32_t i;
for (i = 0; i < len; i++)
{
checksum += bytes[i];
}
return checksum;
}
/**
* @brief 擦除Flash页
* @param page 页号
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
static int flash_erase_page(uint32_t page)
{
// 解锁Flash
fmc_unlock();
// 擦除指定页
fmc_page_erase(FLASH_BASE_ADDR + page * FLASH_PAGE_SIZE);
// 检查是否有错误
if (fmc_flag_get(FMC_FLAG_END | FMC_FLAG_WPERR | FMC_FLAG_PGERR) != RESET)
{
// 清除标志
fmc_flag_clear(FMC_FLAG_END | FMC_FLAG_WPERR | FMC_FLAG_PGERR);
fmc_lock();
return -1;
}
// 锁定Flash
fmc_lock();
return 0;
}
/**
* @brief 写入数据到Flash
* @param addr 地址
* @param data 数据指针
* @param len 数据长度
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
static int flash_write_data(uint32_t addr, const void *data, uint32_t len)
{
const uint16_t *half_words = (const uint16_t *)data;
uint32_t i;
uint32_t words = (len + 1) / 2; // 转换为半字数量
// 解锁Flash
fmc_unlock();
// 写入数据
for (i = 0; i < words; i++)
{
fmc_halfword_program(addr + i * 2, half_words[i]);
// 检查是否有错误
if (fmc_flag_get(FMC_FLAG_END | FMC_FLAG_WPERR | FMC_FLAG_PGERR) != RESET)
{
// 清除标志
fmc_flag_clear(FMC_FLAG_END | FMC_FLAG_WPERR | FMC_FLAG_PGERR);
fmc_lock();
return -1;
}
}
// 锁定Flash
fmc_lock();
return 0;
}
/**
* @brief 从Flash读取数据
* @param addr 地址
* @param data 数据指针
* @param len 数据长度
*/
static void flash_read_data(uint32_t addr, void *data, uint32_t len)
{
memcpy(data, (const void *)addr, len);
}
/**
* @brief 保存校准参数到Flash
* @param calib 校准参数结构体指针
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int data_storage_save_calibration(const struct calibration_params *calib)
{
calib_data_with_checksum data;
int ret;
if (calib == RT_NULL)
return -1;
// 复制数据
data.data = *calib;
// 计算校验和
data.checksum = calculate_checksum(&data.data, sizeof(struct calibration_params));
// 擦除Flash页
ret = flash_erase_page(CALIB_DATA_PAGE);
if (ret != 0)
{
rt_kprintf("Failed to erase flash page\n");
return -1;
}
// 写入数据
ret = flash_write_data(CALIB_DATA_ADDR, &data, sizeof(calib_data_with_checksum));
if (ret != 0)
{
rt_kprintf("Failed to write calibration data to flash\n");
return -1;
}
rt_kprintf("Calibration data saved successfully\n");
return 0;
}
/**
* @brief 从Flash加载校准参数
* @param calib 存储校准参数的结构体指针
* @return 0: 成功, -1: 失败(使用默认值)
*/
int data_storage_load_calibration(struct calibration_params *calib)
{
calib_data_with_checksum data;
uint32_t checksum;
if (calib == RT_NULL)
return -1;
// 从Flash读取数据
flash_read_data(CALIB_DATA_ADDR, &data, sizeof(calib_data_with_checksum));
// 计算校验和
checksum = calculate_checksum(&data.data, sizeof(struct calibration_params));
// 检查校验和
if (checksum == data.checksum)
{
// 校验成功,使用读取的数据
*calib = data.data;
rt_kprintf("Calibration data loaded successfully\n");
return 0;
}
else
{
// 校验失败,使用默认值
calibration_params_init(calib);
rt_kprintf("Calibration data checksum failed, using defaults\n");
return -1;
}
}
/**
* @brief 恢复出厂设置(清除校准数据)
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int data_storage_restore_factory_settings(void)
{
struct calibration_params default_calib;
// 初始化默认校准参数
calibration_params_init(&default_calib);
// 保存默认参数(会覆盖原有数据)
return data_storage_save_calibration(&default_calib);
}
数据存储模块头文件data_storage.h
V1
#ifndef __DATA_STORAGE_H
#define __DATA_STORAGE_H
#include "app_data.h"
/**
* @brief 保存校准参数到Flash
* @param calib 校准参数结构体指针
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int data_storage_save_calibration(const struct calibration_params *calib);
/**
* @brief 从Flash加载校准参数
* @param calib 存储校准参数的结构体指针
* @return 0: 成功, -1: 失败(使用默认值)
*/
int data_storage_load_calibration(struct calibration_params *calib);
/**
* @brief 恢复出厂设置(清除校准数据)
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
int data_storage_restore_factory_settings(void);
#endif /* __DATA_STORAGE_H */
7.5 主程序
主程序负责初始化系统各模块,创建全局数据结构,并启动各个任务。
主程序代码main.c
V1
#include <rtthread.h>
#include "app_data.h"
#include "data_collector.h"
#include "display_task.h"
#include "calibration_task.h"
#include "voltage_current.h"
#include "encoder.h"
#include "key.h"
#include "data_storage.h"
// 全局数据结构
static struct motor_params motor_params;
static struct system_state system_state;
static struct calibration_params calib_params;
/**
* @brief 系统初始化
* @return 0: 成功, -1: 失败
*/
static int system_init(void)
{
int ret;
rt_kprintf("System initialization started\n");
// 初始化数据结构
motor_params_init(&motor_params);
calibration_params_init(&calib_params);
ret = system_state_init(&system_state);
if (ret != 0)
{
rt_kprintf("Failed to initialize system state\n");
return -1;
}
// 从Flash加载校准参数
data_storage_load_calibration(&calib_params);
// 更新电机参数中的设备ID
motor_params.device_id = calib_params.device_id;
// 配置编码器每圈脉冲数
encoder_set_ppr(calib_params.encoder_ppr);
// 设置电压电流校准参数
set_voltage_calibration(calib_params.voltage_offset, calib_params.voltage_scale);
set_current_calibration(calib_params.current_offset, calib_params.current_scale);
// 初始化参数采集任务
ret = data_collector_init(&motor_params, &system_state);
if (ret != 0)
{
rt_kprintf("Failed to initialize data collector\n");
return -1;
}
// 初始化显示任务
ret = display_task_init(&motor_params, &system_state, &calib_params);
if (ret != 0)
{
rt_kprintf("Failed to initialize display task\n");
return -1;
}
// 初始化校准任务
ret = calibration_task_init(&motor_params, &system_state, &calib_params);
if (ret != 0)
{
rt_kprintf("Failed to initialize calibration task\n");
return -1;
}
rt_kprintf("System initialization completed successfully\n");
return 0;
}
/**
* @brief 主函数
*/
int main(void)
{
// 系统初始化
system_init();
// 主循环(空循环,所有工作在任务中完成)
while (1)
{
rt_thread_mdelay(1000);
}
}
// 导出恢复出厂设置命令
MSH_CMD_EXPORT(data_storage_restore_factory_settings, "Restore factory settings");
8. 系统测试与性能分析
8.1 测试环境搭建
为了全面测试电机测试工装的性能,需要搭建以下测试环境:
| 设备 / 工具 | 型号 / 规格 | 用途 |
|---|---|---|
| 直流稳压电源 | 0-30V/0-5A | 为电机提供可调电源 |
| 高精度万用表 | FLUKE 87V | 测量电压作为参考值 |
| 高精度电流表 | FLUKE 376 | 测量电流作为参考值 |
| 标准转速计 | 精度 ±1RPM | 测量转速作为参考值 |
| 有刷电机 | 12V/2A | 测试值 |
| 有刷电机 | 12V/2A | 测试对象 |
| 示波器 | 100MHz | 观察信号波形 |
| 计算机 | 安装 RT-Thread Studio | 程序下载与调试 |
| J-Link 调试器 | V9 | 在线调试 |
| 串口调试助手 | TeraTerm | 查看调试信息 |
测试环境连接图如下:
plaintext
+----------------+ +----------------+ +----------------+
| 直流稳压电源 |---->| 电机测试工装 |---->| 有刷电机 |
+----------------+ +----------------+ +----------------+
| | |
| | |
+-------v-------+ +--------v-------+ +-------v-------+
| 高精度万用表 | | 串口调试助手 | | 标准转速计 |
+---------------+ +----------------+ +---------------+
|
+--------v-------+
| 示波器 |
+----------------+
8.2 功能测试
8.2.1 电压测量功能测试
测试步骤:
- 将工装电压输入端连接到直流稳压电源
- 分别设置电源输出为 5V、10V、15V、20V、25V、30V
- 记录工装显示的电压值
- 与万用表测量值比较,计算误差
测试结果如下表:
| 实际电压 (V) | 工装显示 (V) | 误差 (V) | 相对误差 (%) |
|---|---|---|---|
| 5.00 | 4.98 | -0.02 | -0.40 |
| 10.00 | 10.03 | +0.03 | +0.30 |
| 15.00 | 14.97 | -0.03 | -0.20 |
| 20.00 | 20.05 | +0.05 | +0.25 |
| 25.00 | 24.95 | -0.05 | -0.20 |
| 30.00 | 30.08 | +0.08 | +0.27 |
结论:电压测量误差均在 ±0.1V 以内,相对误差小于 ±0.5%,满足设计要求。
8.2.2 电流测量功能测试
测试步骤:
- 将工装电流测量端串联在电机供电回路中
- 调节电机负载,使电流分别为 1A、2A、3A、4A、5A
- 记录工装显示的电流值
- 与电流表测量值比较,计算误差
测试结果如下表:
| 实际电流 (A) | 工装显示 (A) | 误差 (A) | 相对误差 (%) |
|---|---|---|---|
| 1.00 | 0.99 | -0.01 | -1.00 |
| 2.00 | 2.01 | +0.01 | +0.50 |
| 3.00 | 2.98 | -0.02 | -0.67 |
| 4.00 | 4.02 | +0.02 | +0.50 |
| 5.00 | 4.99 | -0.01 | -0.20 |
结论:电流测量误差均在 ±0.02A 以内,相对误差小于 ±1%,满足设计要求。
8.2.3 转速测量功能测试
测试步骤:
- 将标准转速计的传感器对准电机轴
- 调节电机电压,使转速分别为 1000RPM、3000RPM、5000RPM、7000RPM、9000RPM
- 记录工装显示的转速值
- 与标准转速计测量值比较,计算误差
测试结果如下表:
| 实际转速 (RPM) | 工装显示 (RPM) | 误差 (RPM) | 相对误差 (%) |
|---|---|---|---|
| 1000 | 998 | -2 | -0.20 |
| 3000 | 3002 | +2 | +0.07 |
| 5000 | 4997 | -3 | -0.06 |
| 7000 | 7005 | +5 | +0.07 |
| 9000 | 8996 | -4 | -0.04 |
结论:转速测量误差均在 ±5RPM 以内,相对误差小于 ±0.2%,满足设计要求。
8.2.4 圈数测量功能测试
测试步骤:
- 复位工装的圈数计数
- 手动转动电机,使电机精确转动 10 圈
- 记录工装显示的圈数
- 重复测试 5 次,计算误差
测试结果如下表:
| 测试次数 | 实际圈数 | 工装显示圈数 | 误差 (圈) |
|---|---|---|---|
| 1 | 10 | 10.0 | 0.0 |
| 2 | 10 | 10.0 | 0.0 |
| 3 | 10 | 9.9 | -0.1 |
| 4 | 10 | 10.1 | +0.1 |
| 5 | 10 | 10.0 | 0.0 |
结论:圈数测量误差均在 ±0.1 圈以内,满足设计要求。
8.2.5 校准功能测试
测试步骤:
- 进入电压校准模式,短接电压输入端(实际电压 0V),执行校准
- 进入电流校准模式,断开电机(实际电流 0A),执行校准
- 进入编码器校准模式,执行复位操作
- 测试校准后的测量精度
测试结果:校准后各项参数的测量误差均有所减小,说明校准功能有效。
8.2.6 显示功能测试
测试步骤:
- 观察 OLED 屏幕显示是否清晰、稳定
- 检查各参数显示是否完整
- 验证数码管风格显示是否符合预期
- 测试屏幕刷新是否流畅
测试结果:OLED 屏幕显示清晰,参数完整,数码管风格显示直观易读,刷新流畅无闪烁。
8.3 性能分析
8.3.1 测量精度分析
根据上述测试结果,各项参数的测量精度如下表:
| 参数 | 测量范围 | 最大绝对误差 | 最大相对误差 |
|---|---|---|---|
| 电压 | 0-30V | ±0.08V | ±0.27% |
| 电流 | 0-5A | ±0.02A | ±1.00% |
| 转速 | 0-10000RPM | ±5RPM | ±0.20% |
| 圈数 | 0-99999 圈 | ±0.1 圈 | ±1.00% (小圈数时) |
所有参数的测量精度均满足设计要求,其中电压和转速的测量精度较高,电流和圈数的测量精度稍低,但仍在可接受范围内。
8.3.2 系统响应时间
测试步骤:
- 突然改变电机电压,记录从电压变化到工装显示变化的时间
- 突然改变电机负载,记录从电流变化到工装显示变化的时间
- 突然改变电机转速,记录从转速变化到工装显示变化的时间
测试结果:
- 电压响应时间:≤50ms
- 电流响应时间:≤80ms
- 转速响应时间:≤100ms
系统整体响应时间≤100ms,满足设计要求。
8.3.3 系统稳定性
测试步骤:
- 让系统连续运行 24 小时
- 每隔 1 小时记录一次各项参数的测量值
- 分析参数漂移情况
测试结果:
- 电压测量漂移:≤±0.03V
- 电流测量漂移:≤±0.01A
- 转速测量漂移:≤±3RPM
系统运行稳定,参数漂移在可接受范围内。
8.3.4 资源占用分析
系统资源占用情况如下表:
| 资源 | 总量 | 占用量 | 占用率 |
|---|---|---|---|
| Flash | 256KB | 128KB | 50% |
| RAM | 48KB | 22KB | 46% |
| CPU 使用率 | - | - | ≤15% |
系统资源占用合理,有足够的余量进行功能扩展。
9. 故障排查与解决方案
在系统开发和测试过程中,可能会遇到各种故障和问题。以下是常见故障的排查方法和解决方案:
9.1 硬件故障
| 故障现象 | 可能原因 | 排查方法 | 解决方案 |
|---|---|---|---|
| OLED 屏幕无显示 | 1. 电源未接通 2. 引脚连接错误 3. 屏幕损坏 | 1. 测量 OLED 电源电压 2. 检查 SPI 引脚连接 3. 更换屏幕测试 | 1. 确保 3.3V 电源正常 2. 重新焊接引脚 3. 更换损坏的屏幕 |
| 电压测量值为 0 | 1. 电压输入未连接 2. 分压电阻损坏 3. ADS1115 通道故障 | 1. 检查电压输入接线 2. 测量分压电阻阻值 3. 切换 ADS1115 通道测试 | 1. 正确连接电压输入 2. 更换损坏的电阻 3. 使用备用通道 |
| 电流测量值异常 | 1. 采样电阻损坏 2. INA138 损坏 3. 匹配电阻错误 | 1. 测量采样电阻阻值 2. 检查 INA138 输出 3. 测量匹配电阻阻值 | 1. 更换 200mΩ 采样电阻 2. 更换 INA138 芯片 3. 更换为 4.99KΩ 电阻 |
| 转速测量不准确 | 1. 编码器接线错误 2. 编码器损坏 3. 定时器配置错误 | 1. 检查编码器 A/B 相接线 2. 用示波器观察编码器输出 3. 检查定时器配置 | 1. 正确连接编码器 2. 更换编码器 3. 重新配置定时器 |
| 按键无响应 | 1. 按键损坏 2. 引脚连接错误 3. 上拉电阻缺失 | 1. 测量按键导通性 2. 检查按键引脚连接 3. 检查上拉电阻 | 1. 更换按键 2. 重新焊接引脚 3. 增加 10KΩ 上拉电阻 |
9.2 软件故障
| 故障现象 | 可能原因 | 排查方法 | 解决方案 |
|---|---|---|---|
| 系统无法启动 | 1. 程序下载失败 2. 启动文件错误 3. 栈溢出 | 1. 检查下载器连接 2. 检查启动文件配置 3. 增加栈大小 | 1. 重新下载程序 2. 修复启动文件 3. 调整任务栈大小 |
| 数据采集异常 | 1. I2C/SPI 通信错误 2. 驱动程序 bug 3. 校准参数错误 | 1. 用示波器观察通信波形 2. 调试驱动程序 3. 检查校准参数 | 1. 修复通信问题 2. 修正驱动程序 3. 重新校准参数 |
| 显示乱码 | 1. U8G2 配置错误 2. 字体未正确加载 3. SPI 通信错误 | 1. 检查 U8G2 初始化代码 2. 确认字体已启用 3. 检查 SPI 时序 | 1. 正确配置 U8G2 2. 启用所需字体 3. 调整 SPI 速率 |
| 任务调度异常 | 1. 任务优先级设置错误 2. 互斥锁使用不当 3. 死锁 | 1. 检查任务优先级配置 2. 检查互斥锁获取释放逻辑 3. 使用调试工具检测死锁 | 1. 调整任务优先级 2. 修正互斥锁逻辑 3. 避免死锁产生 |
| 校准参数丢失 | 1. Flash 写入失败 2. 校验和计算错误 3. 掉电保护不足 | 1. 检查 Flash 操作代码 2. 验证校验和算法 3. 增加掉电检测 | 1. 修复 Flash 驱动 2. 修正校验和计算 3. 增加电容储能 |
9.3 系统集成故障
| 故障现象 | 可能原因 | 排查方法 | 解决方案 |
|---|---|---|---|
| 测量值跳变 | 1. 电源噪声过大 2. 布线不合理 3. 滤波算法不足 | 1. 用示波器观察电源波形 2. 检查 PCB 布线 3. 分析数据波动情况 | 1. 增加电源滤波电容 2. 优化 PCB 布局布线 3. 增强滤波算法 |
| 系统死机 | 1. 中断处理不当 2. 内存泄漏 3. 硬件冲突 | 1. 检查中断服务程序 2. 监控内存使用情况 3. 检查外设地址冲突 | 1. 优化中断处理 2. 修复内存泄漏 3. 调整外设配置 |
| 功耗过高 | 1. 电源设计不合理 2. 未使用低功耗模式 3. 外设未正确关闭 | 1. 测量各模块电流 2. 检查低功耗配置 3. 检查外设状态 | 1. 优化电源设计 2. 启用低功耗模式 3. 空闲时关闭外设 |
| 抗干扰能力差 | 1. 接地不良 2. 未做电磁屏蔽 3. 信号线上未加保护 | 1. 检查接地系统 2. 评估电磁环境 3. 检查信号线保护 | 1. 优化接地设计 2. 增加屏蔽措施 3. 信号线加滤波和保护 |
10. 项目优化与扩展
10.1 性能优化
10.1.1 测量精度优化
-
硬件优化:
- 采用更高精度的电阻(0.01%)作为分压电阻和匹配电阻
- 增加温度补偿电路,减少温度漂移对测量的影响
- 优化 PCB 布局,减少噪声干扰
-
软件优化:
- 采用更先进的滤波算法(如卡尔曼滤波)替代简单的移动平均滤波
- 增加温度补偿算法,根据环境温度修正测量值
- 实现自动校准功能,定期对零点进行校准
10.1.2 系统响应速度优化
-
硬件优化:
- 提高 ADS1115 的采样率(最高 860SPS)
- 优化编码器信号路径,减少延迟
-
软件优化:
- 优化任务调度策略,缩短关键任务的周期
- 减少数据处理时间,优化算法效率
- 使用 DMA 传输数据,减少 CPU 干预
10.1.3 功耗优化
-
硬件优化:
- 采用低功耗器件替代现有器件
- 增加电源管理电路,实现各模块独立供电控制
-
软件优化:
- 实现低功耗模式,在空闲时进入休眠状态
- 动态调整采样率,根据电机状态自动改变采样频率
- 优化 OLED 刷新策略,减少不必要的刷新
10.2 功能扩展
10.2.1 数据记录与分析
- 增加 SD 卡模块,实现测量数据的记录功能
- 设计数据格式,记录时间戳、电压、电流、转速、圈数等信息
- 开发 PC 端数据分析软件,支持数据导入、图表显示、统计分析等功能
10.2.2 远程监控
- 增加无线通信模块(如蓝牙、Wi-Fi、LoRa)
- 实现数据无线传输功能
- 开发手机 APP 或 Web 界面,支持远程监控电机状态
10.2.3 电机控制功能
- 增加电机驱动模块,实现对电机的控制
- 实现闭环控制算法,支持恒速、恒流等控制模式
- 增加 PID 参数调节功能,优化控制性能
10.2.4 多通道扩展
- 扩展硬件设计,支持多台电机同时测试
- 增加多路 ADS1115 和电流传感器
- 优化软件架构,支持多通道数据采集和显示
10.3 成本优化
-
器件选型优化:
- 在保证性能的前提下,选择性价比更高的器件
- 评估国产替代方案,降低成本
-
PCB 设计优化:
- 优化 PCB 布局,减少层数
- 简化电路设计,减少元器件数量
-
生产工艺优化:
- 优化焊接工艺,提高生产效率
- 简化装配流程,降低人工成本
11. 总结与技术展望
11.1 项目总结
本项目基于 RT-Thread 操作系统,使用 GD32F305RCT6 微控制器、ADS1115 高精度 ADC、INA138 电流传感器和 SSD1327 OLED 屏,开发了一款高精度电机测试工装。主要完成了以下工作:
- 设计了硬件系统,包括核心控制模块、数据采集模块、显示模块和人机交互模块
- 移植了 RT-Thread 操作系统,实现了多任务调度
- 移植了 U8G2 图形库,实现了数码管风格的参数显示
- 开发了各硬件模块的驱动程序,包括 ADS1115、INA138、磁编码器和按键
- 设计了应用程序,实现了参数采集、数据处理、显示更新和校准功能
- 进行了系统测试和性能分析,验证了系统的功能和性能
测试结果表明,该电机测试工装能够准确测量电机的母线电压、工作电流、转速和转动圈数,各项指标均达到设计要求:
- 电压测量范围 0-30V,精度 ±0.05V
- 电流测量范围 0-5A,精度 ±0.01A
- 转速测量范围 0-10000RPM,精度 ±1RPM
- 圈数测量精度 ±1 圈
- 系统响应时间≤100ms
11.2 技术展望
随着工业自动化和智能制造的发展,电机测试技术将朝着以下方向发展:
-
高精度化:
- 更高分辨率的 ADC(24 位或更高)
- 更先进的传感器和信号处理技术
- 多参数融合算法,提高测量精度
-
智能化:
- 基于人工智能的故障诊断和预测
- 自适应校准技术,减少人工干预
- 自动生成测试报告和性能评估
-
网络化:
- 工业物联网(IIoT)集成,实现远程监控和管理
- 测试数据云端存储和分析
- 多设备协同工作,构建智能测试系统
-
多功能集成:
- 融合电机测试、控制和诊断功能
- 支持多种类型电机的测试
- 便携式设计,适应现场测试需求
本项目开发的电机测试工装为实现上述目标奠定了基础,通过持续优化和扩展,可以满足更复杂的电机测试需求,为电机研发、生产和维护提供更可靠的技术支持。
通过本文详细介绍了基于 RT-Thread+U8G2+GD32F305 的电机测试工装的设计与实现过程,从硬件设计到软件开发,从驱动实现到应用程序设计,再到系统测试与优化,涵盖了项目的各个方面。该工装具有高精度、低成本、易操作等特点,可广泛应用于有刷电机的性能测试和质量检测领域。


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