1、表面和圆度测量学简介

表面和圆度测量学简介

1 引言

表面光洁度是组件、制造过程和预期功能之间的关键联系。表面光洁度、部件功能性和制造过程参数之间的关系是测量、表征和研究表面纹理的主要原因。表面计量学可以追溯到20世纪40年代，当时英国Rank Taylor Hobson公司的研究人员进行了开创性的工作。自那时以来，基于触针的技术一直用于表面纹理测量，同时光学技术也被广泛应用。圆度测量始于1960年代，早期的研究报告由Reason（1966）提出。此外，Whitehouse、Thomas、Smith和Jiang等人对表面计量学的发展和不同测量技术进行了详细的回顾。

1.1 表面和圆度测量的重要性

表面光洁度是组件、制造过程和预期功能之间的关键联系。测量、表征和研究表面纹理的主要原因是表面光洁度、部件功能性以及制造过程参数之间的关系。表面光洁度的优劣直接影响到组件的功能性能和使用寿命。例如，在机械工程中，良好的表面光洁度可以减少摩擦，提高耐磨性和密封性，从而延长机器的使用寿命。

1.2 表面计量学的历史

表面计量学可以追溯到20世纪40年代，当时英国Rank Taylor Hobson公司的研究人员进行了开创性的工作。自那时以来，基于触针的技术一直用于表面纹理测量。触针法通过在表面上移动触针，记录触针的位移来测量表面轮廓。随着技术的进步，触针法的精度不断提高，成为表面测量的重要手段。同时，光学技术也被广泛应用，通过激光扫描或干涉测量等方法，可以实现非接触式的高精度测量。

表1.1 表面测量技术发展历程

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