读《微波工程(第三版)》笔记 (3:介质中的边界条件)

本文探讨了在特定边界条件下,如何求解麦克斯韦方程组以获取电位移矢量、磁感应强度等物理量的具体表达式。通过分析不同介质间的分界面,详细阐述了法向和切向场的连续性和不连续性的数学描述。

求解微分形式的麦克斯韦方程组(详见笔记1) ,必须已知边界上的值时,才能有完整切唯一的解。

常用的方法是:在一定的区域求解无源麦克斯韦方程组获得带有未知系数的通解,再利用边界条件来求得这些系数

我的理解:麦克斯韦方程组+边界条件=特解


目录

一般材料分界面上的场

分析模型

电位移矢量

磁感应强度

电场强度

磁场强度

介质分界面的场

理想导体(电壁)分界面的场

磁壁边界条件


一般材料分界面上的场

分析模型

考虑两种媒质之间的平面界面,如图3.1所示:

图 3.1

其中,两个介质内的场和分界面上的场都用颜色进行了区分。

利用积分形式的麦克斯韦方程组来推导分界面上的的法向、切向场的边界条件

 我们可以选取如图3.2所示的闭合高斯曲面作为分析工具,主要用来分析电位移矢量和磁感应强度。它是一个圆柱面,上下底面横跨两种媒质,并且要求高度h->0。

 图 3.2

分析磁场、电场时,可以使用图3.3

 图 3.3(这里有点小错误,别管两个磁感应强度

电位移矢量

电位移矢量满足高斯定理:

\oint _{S}\overrightarrow{D}\cdot d\overrightarrow{s}=\int _{V}\rho d\nu=Q

由于高度h趋于0,此时圆柱侧面的电位移通量贡献为0,可以简化为:

\begin{} {\color{black} \Delta S\cdot D_{n2} - \Delta S\cdot D_{n1} = \Delta S\cdot \rho_{s}} \\\\ D_{n2}-D_{n1}=\rho_{s} \end{}

如果写成矢量形式,则为:

\widehat{n}\cdot (\overrightarrow{D_{2}}-\overrightarrow{D_{1}})=\rho_{s}

也就是:电位移矢量在边界上法向不连续,数值相差为分界面上的面电荷密度

磁感应强度

同样地,将磁通连续性方程的积分形式

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