
聚酰亚胺(分子片段)
引言:
聚酰亚胺光刻胶属于高性能、特种光刻胶的范畴,与传统的光刻胶(如之前讨论的PVCi)在应用、性能和工艺上有显著区别。它通常不是用于定义晶体管等微细图形,而是作为永久性的缓冲层、绝缘层、钝化层或结构层,广泛应用于半导体封装、MEMS(微机电系统)、先进封装(如Fan-Out、2.5D/3D IC)等领域。
一、 原料与配方
光刻胶用聚酰亚胺的核心是使其具备光刻图形化能力,通常通过两种技术路径实现:
负性PSPI(主流): 在聚酰亚胺前驱体(聚酰胺酸,PAA)的侧链或主链上引入光敏基团(如丙烯酸酯、甲基丙烯酸酯)。
正性PSPI: 使用光致酸发生器(PAG)和在酸作用下溶解性发生变化的官能团,原理类似化学放大胶。
本文重点解析最主流的负性光刻胶用聚酰亚胺。

光敏聚酰亚胺封装材料
(一)核心原料:
1. 二酐单体(Tetracarboxylic Dianhydride):
均苯四甲酸二酐(PMDA): 刚性大,成膜脆性稍高,但耐热性和模量极佳。
联苯四甲酸二酐(BPDA): 比PMDA柔性好,综合性能优异,非常常用。
六氟二酐(6FDA): 引入氟原子,能显著改善溶解性、介电性能和透光性。
酮酐(BTDA)、醚酐(ODPA/OPDA)等: 提供柔性、溶解性和其他特定性能。
作用: 提供酰亚胺环的“刚性”部分,是高性能(耐热、高强度)的来源。
2. 二胺单体(Diamine):
4,4'-二氨基二苯醚(ODA): 最常用的二胺之一,柔性好,成膜性佳。
对苯二胺(PDA): 刚性极大,耐热性极高,但成膜脆。
4,4'-二氨基二苯甲烷(MDA)
含硅二胺(如BAPB): 改善附着力和平坦化性能。
作用: 提供分子链的“连接”部分,调节柔韧性、溶解性和 Tg(玻璃化转变温度)。
3. 光敏单体/试剂(Photosensitive Component): 实现光刻图形化的关键。
丙烯酸酯封端剂/含双键的二胺/二酐: 最常用的方法。例如,使用甲基丙烯酸羟乙酯(HEMA) 等含羟基的丙烯酸酯单体与PAA链末端的羧基反应,将可聚合的双键接到聚合物上。曝光时,双键在光引发剂作用下发生交联。
作用: 提供光交联反应位点。
4. 光引发剂(Photoinitiator):
例如:Irgacure 369, OXE-02 等高效紫外光引发剂。
作用: 吸收光能后产生自由基,引发丙烯酸双键的交联聚合反应。
5. 溶剂(Solvent):
反应溶剂: 高极性非质子溶剂,如N-甲基吡咯烷酮(NMP)、二甲基乙酰胺(DMAC)、二甲基甲酰胺(DMF)。它们能有效溶解PAA。
配胶溶剂: 同上,有时会加入γ-丁内酯(GBL) 等调节挥发速度和流平性。
(二)光刻胶配方(典型负性PSPI):
聚酰胺酸(PAA)树脂(含光敏基团): 10-25% (固体含量)
光引发剂: 1-4%
溶剂(NMP/DMAC/GBL混合): 余量
添加剂: 流平剂(~0.1%)、粘附促进剂(如硅烷偶联剂)、染料等。

二、 合成方法与合成工艺流程
(一)合成方法:
1. 两步法
首先合成聚酰亚胺的前驱体——聚酰胺酸(PAA),然后在后续工艺中通过高温“亚胺化”形成最终的聚酰亚胺。
2. 反应方程式:
PAA合成(缩聚):n ODA + n PMDA -> [ -ODA-PMDA- ]ₙ (在NMP中,低温反应)
化学亚胺化(可选): 加入乙酸酐/吡啶脱水。
热亚胺化(主要方式): [PAA] -> [PI] + n H₂O (高温烘烤,300-400°C)
(二)合成工艺流程(以负性PSPI为例):
步骤 1: 聚酰胺酸(PAA)树脂合成
在干燥、绝湿的反应釜中,投入精确计量的二胺单体(如ODA)和NMP溶剂,在N₂保护下搅拌溶解。将体系冷却至0°C以下(通常用冰盐浴,-5至 -10°C)。分批、缓慢地加入精确计量的二酐单体(如PMDA),严格控制温度始终低于5°C。此低温是抑制副反应、控制分子量的关键。加料完毕后,在低温下继续反应数小时,得到高粘度的聚酰胺酸(PAA)溶液。
步骤 2: 光敏化(引入双键)
将体系恢复至室温。加入精确计量的含羟基丙烯酸酯单体(如HEMA)和催化剂(如DCC,二环己基碳二亚胺),与PAA链末端的羧基反应,生成接枝有光敏基团的PAA树脂。反应结束后,将聚合物溶液缓慢倒入大量去离子水/醇混合物中沉淀。过滤、洗涤、真空干燥,得到固态的光敏PAA树脂(或直接用于下一步配胶)。
步骤 3: 配胶
将光敏PAA树脂重新溶解于混合溶剂(NMP/GBL)中,达到指定的固体含量。加入光引发剂、添加剂,长时间搅拌至完全溶解和均化。使用0.1 μm的ULTFE或尼龙滤芯进行多次过滤,得到超净、均一的光刻胶液。

聚酰亚胺在半导体领域的应用
三、 核心工艺条件参数和质量控制
1. 核心工艺条件参数(合成部分):
反应温度(PAA合成): <5°C,是控制分子量和避免凝胶化的生命线。
单体摩尔比(二酐 : 二胺): 通常略微偏离化学计量比(如0.995:1),通过一端过量的单体来控制分子链终止,从而精确控制分子量。
固体含量: 控制反应体系粘度,通常在15-20%。
加料顺序与速率: 通常是“二胺溶于溶剂,再加二酐”,加料速率要慢,保证散热和均匀。
气氛保护: 全程N₂保护,隔绝H₂O和O₂(H₂O会使二酐水解,导致分子量分布变宽)。
2. 质量控制(QC)指标:
特性粘度(Inherent Viscosity): 在乌氏粘度计中测定。直接反映PAA的分子量,是决定最终PI薄膜机械性能的关键参数。通常控制在0.5-1.2 dL/g范围内。
固体含量(Solid Content): 确保配胶浓度准确。
凝胶渗透色谱(GPC): 测定分子量及其分布。
红外光谱(FTIR): 定性分析:监测PAA的特征酰胺峰(~1650 cm⁻¹, 1550 cm⁻¹)和亚胺化后酰亚胺特征峰(~1780 cm⁻¹, 1720 cm⁻¹, 1380 cm⁻¹, 720 cm⁻¹)。
金属离子含量: 通过ICP-MS检测,需<1 ppm,极高要求下需<10 ppb。
胶液稳定性: 监测粘度随时间的变化,确保在货架期内性能稳定。
四、 在光刻胶中使用对其性能参数要求
作为高性能永久图层,PSPI的要求远超临时图形转移胶:
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高感光度与高对比度: 尽管是厚膜光刻胶(通常5-50μm),仍需有足够的灵敏度以实现合理产能,并有高对比度来保证图形侧壁的垂直度。
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低固化收缩率(Low Shrinkage): 在高温亚胺化过程中,PAA会脱水闭环并释放出小分子,导致薄膜收缩。低收缩率(通常<30%) 对于避免图形畸变、内应力和翘曲至关重要。
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优异的机械性能: 高的拉伸强度(>150 MPa)、断裂伸长率(>20%) 和弹性模量,以确保在后续加工中能保护芯片而不产生裂纹。
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极高的热稳定性: 玻璃化转变温度(Tg)通常 >300°C,热分解温度Td5% >500°C。这是其作为缓冲层、钝化层的基础,必须能承受封装、焊线等高温过程。
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优异的电气性能: 低介电常数(Dk ~2.8-3.5) 和低介质损耗(Df <0.01),作为层间介质时能减少信号延迟和串扰。
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良好的化学稳定性: 固化后必须能抵抗各种酸碱蚀刻液、有机溶剂和电镀液的侵蚀。
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卓越的平坦化能力(Planarization): 能够填充底层图形的凹凸,形成平坦的表面,利于后续多层布线。
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与基板的良好附着力: 对硅、SiO₂、Si₃N₄、各种金属(Cu, Al)都有强附着力。
五、 关键生产与检测设备
(一)生产设备:
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合成反应器: 带夹套的玻璃或不锈钢反应釜,配有超低温冷却系统(-20°C甚至更低)、高精度计量泵、高扭矩搅拌器、全套氮气保护系统。
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配胶系统: 不锈钢配料罐、高精度过滤器(滤芯式)、密闭输送管道。
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涂布与显影设备(Evaluation): 厚胶专用旋涂机(可程序控制低速以得到厚膜)、热板、** proximity/contact光刻机、显影槽或喷淋显影机。
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高温固化设备: 程序控制高温烤箱(Curing Oven) 或管式炉。必须能提供惰性气氛(N₂) 和精确的升温程序(如:1-5°C/min升温至300-400°C,保温1小时)。
(二)检测与分析设备:
1. 理化分析:
FTIR: 监控合成反应和亚胺化度。
GPC: 分析分子量及分布。
Ubbelohde Viscometer: 测定特性粘度。
ICP-MS: 检测痕量金属杂质。
DSC (Differential Scanning Calorimetry): 测定玻璃化转变温度(Tg)。
TGA (Thermogravimetric Analysis): 测定热分解温度。
TMA (Thermomechanical Analysis): 测定热膨胀系数(CTE)。
2. 光刻与薄膜性能评估:
旋涂机/热板: 制备薄膜样品。
膜厚仪(Profilometer): 测量膜厚与收缩率。
台阶仪(Stylus Profilometer)/AFM: 测量图形形貌和平坦化能力。
万能拉力机: 测试薄膜的机械性能(强度、伸长率)。
半导体参数分析仪/阻抗分析仪: 测试介电常数和介质损耗。
SEM: 观察图形剖面形貌、分辨率、缺陷等。
结语
光刻胶用聚酰亚胺(PSPI)代表了光刻胶技术的高端领域,它将精密高分子合成化学与微电子图形化工艺深度融合。其价值不在于定义最微小的线宽,而在于提供一套集光刻图形化、卓越的机械性能、绝佳的热稳定性和电绝缘性于一体的系统解决方案。从低温合成控制到高温亚胺化工艺,每一个环节都对最终产品在先进封装和MEMS等苛刻应用中的可靠性起着决定性作用。其生产是技术密集型的,需要跨学科的知识和精密的设备支持。

聚酰亚胺(pi)复合材料模型
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