如何成为一名高级数字 IC 设计工程师(6-7)数字 IC 验证篇:DEBUG 技巧

本文介绍了数字IC验证中的DEBUG思路与技巧,包括理解Pattern内容、分析FAIL情况及定位错误。针对FAIL情况,如Finish但mem_compare失败、直接Failed、Pattern无法结束等,提供了详细的排查方法。在DEBUG技巧部分,提到了CPU读红、MEM_COMPARE失败等问题的解决策略,帮助工程师高效定位并解决问题。

摘要生成于 C知道 ,由 DeepSeek-R1 满血版支持, 前往体验 >

一、DEBUG 思路

        仿真之前,仿真人员需要了解清楚仿真 Pattern 的主要测试内容、测试方法以及控制流程,这些内容存在于 PatternList 中;

        在设计 Pattern 的时候,可以增加 Pattern Goto 的打印,这是非常必要的,一方面可以帮助仿真人员定位当前 Pattern 的运行情况,另一方面也可以证实软件程序如期执行。


二、FAIL 情况

        1、一种是显示 Finish,但是 mem_compare Failed:这种 CASE 需要查看 mem_compare.txt 文件,里面会提示哪一段地址的数据对比发生了错误,然后需要确认错误发生的类型,例如是只错了几字节还是错一大段,或者是全错,根据错误发生的规律,反间推断 CPU 或者 Master 的行为,到底是哪些配置的不合理可能导致这样的错误,然后从中间节点找出错误最开始形成的地方,从而定位原因;

      

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