解决休眠底电流过大调试步骤

本文详细介绍了针对休眠模式下电流消耗过大的问题进行调试的步骤,从硬件检查到软件优化,涵盖电池管理、电源配置、唤醒源分析等关键环节,帮助开发者有效降低设备的待机功耗。

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Comment

Dear customer 

Ok, you can try solution 00024639 , may be it's related with mipi ulps mode . 

Thanks

我将LCD屏摘掉电流是可以下得去的,为2.2mA,我先检查屏的影响。谢谢!

Dear customer 

make "target_cont_splash_screen" function in lk return 0 . 

change cont_splash_enabled to 0 in mdp_pdata structure @ board file . 

Thanks

Dear customer 

please disable continue splash display . 

Thanks

Dear customer 

Change USE_OPENGL_RENDERER to false . 
And change composition to mdp : 
adb shell setprop debug.composition.type mdp 
adb shell stop 
adb shell start 

And use follow method to get mdp and gpu clk : 

adb shell mount –t debugfs none /sys/kernel/debug 
adb shell cat /sys/kernel/debug/clk/grp_3d_clk/rate ( grp_3d_p_clk ) 
adb shell cat /sys/kernel/debug/clk/mdp_clk/rate 

'rate' is the clock value as requested by the software. 'rate' should be a stable value when in suspend state. please get it, and we can compare with sample phone. 

Thanks

Dear customer 
下面是我另外提得case的回复: 
I am not meaning to get the value of kgsl-3d0 interrupts count once, but check its value regularly (ex, 1 time every second) when enter sleep. 

If its value dose not increase during sleep, then we are sure the 3d application is turely sleeping. 

Thanks 

我按照他所说的,在休眠稳定后马上插上USB查看kgsl-3d0的值是1131,然后再拔掉USB进休眠,再插上USB查看kgsl-3d0的值是1133,基本上没有变化,(屏正常显示的时候kgsl-3d0值变化很快),那就是kgsl-3d0已经休下去了。
<think>嗯,用户这次的问题是关于HC32L170单片机进入深度休眠模式后电流未降低的故障排查。这属于嵌入式系统低功耗设计的典型问题,需要从硬件和软件两个层面分析。 用户可能正在调试某个低功耗设备,比如电池供电的物联网终端,遇到功耗异常导致电池寿命不达标的问题。ta的语气透露出些许焦虑,毕竟功耗问题直接影响产品商业化。从技术细节看,ta应该具备一定的单片机开发经验,但可能对华MCU的低功耗机制不够熟悉。 参考文档提到HC32L136在深度休眠功耗仅0.5uA,而HC32L170作为同系列产品,理论指标应该相近。实际电流未下降,说明存在异常唤醒或漏电路径。需要重点排查几个关键点: 首先是唤醒源配置。所有未使用的唤醒源(GPIO中断、RTC、LPTIMER等)都必须禁用,特别是那些悬空未接的GPIO口,容易因干扰产生误唤醒。比如某个配置为上升沿中断的引脚如果浮空,环境噪声就可能不断触发唤醒事件。 其次是外设状态管理。深度休眠前必须关闭ADC、DAC、运放等模拟模块,它们的静态电流不容忽视。同所有高速钟(HCLK/PCLK)都应切换至内部低速钟,并关闭PLL。曾经有个案例是开发板测试忘记关闭调试用的串口上拉电阻,导致额外消耗200uA电流。 硬件方面的问题更隐蔽。PCB上的VDD与GND之间可能存在微小短路,或者去耦电容漏电。用热成像仪观察休眠的芯片温度分布会很有帮助——异常发热点往往指向故障位置。还有用户反馈过因电池电量检测分压电阻阻值过小,导致持续消耗数十微安电流的案例。 软件调试建议分阶段验证:先确保所有IO配置为模拟输入模式(最低功耗状态),再逐个检查外设关闭流程,最后用逻辑分析仪抓取唤醒信号。华提供的功耗调试工具有个实用功能:通过SWD接口实读取电源管理寄存器状态,能快速定位未关闭的模块。 突然想到用户没提开发环境。如果是用评估板出现问题,可能是板载调试器供电导致的测量误差。这应该断开调试器,单独用电流表测量目标板电流才准确。</think>以下是针对HC32L170进入深度休眠模式后电流未降低的原因分析及解决方案,按优先级排序: --- ### **一、核心原因排查** 1. **唤醒源未禁用** - 未使用的唤醒源(GPIO中断、RTC、LVD等)必须关闭,否则会阻止深度休眠或立即唤醒 - **检查**:`PWC_FwkrCmd(DISABLE)` 禁用所有唤醒源,或通过 `PWC_WakeupIoSet()` 明确配置所需唤醒源[^1] 2. **外设未完全关闭** - 深度休眠前需手动关闭所有外设钟(尤其ADC/DAC/USART等模拟外设) - **关键操作**: ```c CLK_PeripClockConfig(CLK_PERIP_ADC | CLK_PERIP_USART0, DISABLE); // 禁用外设钟 PWC_StopModeCfg(PWC_STOP_CTRL_REG_DEEP_SLEEP, ENABLE); // 配置深度休眠 ``` 3. **GPIO配置错误** - 悬空引脚未配置为**模拟输入模式**(高阻态)会形成漏电流 - **解决步骤**: ```c GPIO_SetFunc(GPIO_PORT_X, GPIO_PIN_X, GPIO_FUNC_1); // 所有未使用引脚设为模拟模式 GPIO_AnalogCmd(GPIO_PORT_X, GPIO_PIN_X, ENABLE); // 使能模拟功能 ``` --- ### **二、硬件层问题** 1. **电源路径漏电** - 检查VDD引脚外围电路:移除调试器后测量电流调试接口可能供电) - 确认VBAT电压是否异常(若使用电池供电) 2. **PCB设计缺陷** - 检查是否有短路/虚焊,重点排查电源滤波电容(建议用热成像仪定位发热点) --- ### **三、软件配置流程** 正确进入深度休眠的代码框架: ```c void Enter_DeepSleep(void) { // 1. 关闭所有外设钟 CLK_PeripClockConfig(CLK_PERIP_ALL, DISABLE); // 2. 配置GPIO为最低功耗状态 for (所有未使用引脚) { GPIO_SetFunc(port, pin, GPIO_FUNC_1); // 模拟模式 GPIO_AnalogCmd(port, pin, ENABLE); } // 3. 禁用唤醒源(保留必要唤醒源如RTC) PWC_FwkrCmd(DISABLE); PWC_WakeupIoSet(WAKEUP_PIN_X, ENABLE); // 仅使能特定唤醒引脚 // 4. 切换钟源至内部低速钟 CLK_HclkConfig(CLK_HCLK_SRC_LOWSPEED); // 5. 执行深度休眠 PWC_StopModeCfg(PWC_STOP_CTRL_REG_DEEP_SLEEP, ENABLE); __WFI(); // 进入休眠 } ``` --- ### **四、调试技巧** 1. **电流测量方法** - 使用µA级精度万用表,串联在电源路径 - **注意**:断开调试器并移除所有外部负载 2. **唤醒状态检测** - 在唤醒中断中翻转GPIO电平,用示波器观察唤醒频率 ```c void WKUP_IRQHandler(void) { GPIO_TogglePin(LED_PORT, LED_PIN); // 检测异常唤醒 PWC_ClearWakeupFlag(); } ``` 3. **寄存器检查** - 休眠后读取 `PWC_STOP_WKUP_STAT` 寄存器,确认唤醒源 --- ### **典型问题案例** > 某用户因未关闭**未使用的COMP比较器**,导致电流维持在120µA(正常应<1µA)。通过 `CLK_PeripClockConfig(CLK_PERIP_ACMP, DISABLE)` 解决[^1]。 --- **
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