线扫镜头选型指南

DZOPTICS经过十余年持续的研发技术投入及市场开拓，现已推出光学镜头、显微物镜、光学模组、光学系统等多种产品形态，业务领域覆盖了PCB、PCBA、Wafer、Chip、Display、Micro Display、3C、VR、AR、XR、3D检测、生物细胞、蛋白、基因测序等细分行业的数智化高端制造与先进制程中的光学成像应用。

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线扫镜头选型指南

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线扫镜头

DZOPTICS的线扫镜头靶面涵盖4K、8K、16K ，超低畸变，倍率覆盖0.04倍到6.2倍，最小可支持3.5um像元成像。其中，最富有特色的8K升级系列和16K系列线扫镜头应用的是DZOPTICS最新设计方案和工艺流程，具有优异的APO矫正效果和非常微小的边缘成像差异。主要应用于硅片、薄膜、电池片外观检测、电池片EL检测、绝缘片定位及位置度检测等等。

DZOPTICS线扫镜头的优势

1、自研线扫镜头款式超60余种

2、支持2500万、2900万大靶面（全画幅）面阵相机及8k、12k、16k线扫相机

3、倍率可调，从0.01倍至3倍全部覆盖

4、高分辨率、超低畸变保证检测精准性

5、16k/5u 系列抗温漂设计，温度范围  20~30°C

线扫镜头VIS-NIR共焦效果说明

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线扫镜头在诸多行业中覆盖了不同的应用场景，

如：PCB检测、屏幕缺陷检测、印刷检测、锂电极片/薄膜检测、卷材检测等

线扫镜头的应用领域

• 线扫系统特征

        · 宽幅

        · 高精度

        · 高速

        · 流水线生产

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• 16K线扫镜头应用领域

        ·  OLED屏幕, 半导体, 太阳能板缺陷检测

        ·  高品质织物, IPAD屏幕

        ·  精密零件的表面识别和轮廓测量

        ·   LCD缺陷检测

        应用场景

        1、电路板检测

        常见瑕疵：划痕，电路断裂，焊点脱落

        2、AVI

        绿油上焊盘、露铜、凹陷、凸铜、绿油发白、断绿油桥、缺口等

        3、AOI在PCB检测上的应用

        缺口，金手指突出，短路，开路，残铜，针孔，线宽、线距超差

        4、LCD自动化检测

             阵列式高清自动光学检测系统

             彩色滤光片光学检测系统

             对位膜光学检测系统

             框胶光学检测系统

             在线外径/膜厚/色度光学检查系统

             PSVA光学检测系统

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• 大画幅、广角线扫镜头的应用领域

        锂电(NE)检测、印刷、包装和测试

产品表面检测方案

（射频、涂层、纸张、玻璃、带钢、薄膜、无纺布、箔制品、

医疗产品）

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• 高倍率远心和16K线扫镜头应用

        半导体检测(硅片，清洁垫，芯片) 

        污染、划痕、残留金属、光敏电阻残留物、崩边、RDL破坏、短路、开路、冲击破坏等。

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线扫镜头的选型逻辑

线扫镜头选项依次考虑：

1、靶面大小

Φ43mm（即全画幅/35mm）——8k 5u/5.5u

Φ62mm——8K 7u、12k 5u 、16k 3.5u

Φ82mm——16k 5u

Φ90mm——15k 5.6u

2、视野范围

3、计算得到倍率，根据客户工作距离、芯片像元大小选择合适镜头

原则：镜头最大支持像面≥芯片靶面

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线扫常见Q&A

        16K镜头同轴设计和非同轴设计的区别

        16K线扫镜头和8K线扫镜头差异在哪里?

        1、中心边缘一致性高

        2、更大的画幅

        3、更高解析度

        4、APO设计，降低色差带来的检测误判

        5、16K镜头的部品在加工精度和组装上要求更高，良率更低

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