前言
MOSFET的雪崩主要涉及在特定条件下(如高电压或大电流),其内部通过碰撞电离产生更多的电子-空穴对,导致电流急剧增加,对器件的性能造成影响。雪崩特性是MOSFET在设计和应用中需要考虑的重要参数,因为它直接关系到器件的安全运行和可靠性。
雪崩定义
MOSFET 雪崩是指当 MOSFET 上所承受的电压超过其击穿电压时,在强电场作用下,载流子(电子和空穴)获得足够高的能量,通过碰撞电离产生新的电子 - 空穴对,形成连锁反应,导致电流急剧增大的现象。该现象类似于雪崩,初始的少量载流子在强电场中迅速引发大量载流子的产生和流动,从而可能造成 MOSFET 器件的损坏,影响其正常工作和性能。
雪崩电流和雪崩能量
MOSFET的雪崩特性包括雪崩电流(IAS和IAR)和雪崩能量(EAS和EAR)