集成电路测试问题

针对NP-hard问题，设计算法，解出问题的最优近似解。

 

问题描述：集成电路（如：NOC） 中存在故障，如互联故障的测试，如何寻扎最优的测试矢量是关键，找到测试矢量后，可以借助ATE设备

 

完成测试。电路的描述，故障的加入，端口的选择，路径的选择，在约束条件下，这些都是必须考虑到的，故障的模拟这是比较关键的。矢量的

 

好坏是通过故障模拟得到的，有他来选择淘汰测试矢量。

 

算法的选择，目前单一的算法很难很好的完成测试工作，有相关的理论作为验证。算法用来进化测试矢量，从而是得到更好的测试矢量，满足工

 

业测试的需求。