ARM Cortex-M0调试日志（1）

这几天在基于ARM Cortex M0的板子上调试格雷码测试程序，板子的基本构成是由MBus总线供电，通过tss721通信，由721给M0提供3.3 v工作电压，我在调试的时候通过M0的一个IO脚串接一个100欧的电阻，再接一个1.2v的led指示灯到地。

        程序中使用了一个外部IO脚下降沿触发的外部中断，我在中断中设置一个全局标志供中断外其他部分使用，进入中断就点亮led，退出就关掉led以此来判断程序是否进入中断。程序设计中只需要进入一次中断，调试中一个奇怪的现象发生，led灯不断的闪烁，表示不断的进出中断程序，但是中断里面设置的全局变量确没有生效，而且我进入一次中断后就关闭了中断，按理后续就不应该再进入中断。

        于是就开始检查程序是不是那个地方有问题，是不是没有清除中断标志，甚至怀疑是不是编译器的问题，我就用一个3.6v的电池直接给M0供电，进行程序的调试，程序并没有问题，只进入一次中断，全局变量起作用。我觉得可能不是软件的问题，问题可能出在电源上，但我调试的板子至少来说是一个设计得比较好，而且相对成熟的产品，如果是电源的问题不可能到现在还没有发现。我就用示波器测试了tss721给M0的电源输出，发现输出的是一个方波，而不是一个稳定的3.3v，问题就在这里了，这样的一个方波电源给M0供电导致M0不断的重启，就是看到的led灯闪烁的现象，但这是一个电路上设计成熟的产品，应该不是电路设计上的问题，现在唯一的问题就是我添加的外围电路问题了，问题也确实是出在添加的外围电路上，我添加的led灯上消耗了大约20mA的电流，而tss721能提供的最大电流也就50mA左右，M0正常工作也要消耗几十毫安的电流，这就超过了721的负载，所以就是看到的现象721不能输出稳定的3.3v电压而是一个方波。

        格雷码程序的问题看起来是解决了，但在做老化测试的时候又发现一个问题，MBus总线给721供电，在快速切换电源极性的时候老化程序的指示灯显示不对，但慢速切换的时候又没有问题，现象跟做格雷码程序有些类似，难道又是电源引起的问题，还是是中断程序的问题，经过分析发现时721提供3.3v电源引脚上有电容，在Mbus总线电源极性快速切换的时候没有完全放电，这个时候M0是正常工作的，但是外部的IO中断引脚确产生了一个下降沿导致进入了中断程序，而我的中断程序设计里面又是在动态的检测串口波特率，没有退出，导致老化测试部分程序没有执行，通过修改中断程序问题解决。

 

一点心得：嵌入式软件开发是一项软硬件知识的综合应用，如果能完全理解了电路设计就可以设计出优秀的软件。