滚动轴承的质量检验

一.轴承质量检测振动标准

1.振动加速度国家标准(俗称Z标)
        该标准制定比较早,以测量轴承旋转时的振动加速度值,来判定轴承的质量等级,分为Z1、Z2、Z3由低到高三个质量等级。目前国内轴承制造厂家仍然在使用,以振动加速度值来衡量轴承的优劣,仅仅简单地反映了轴承的疲劳寿命。
2.振动速度标准(俗称V标)
        由于原振动加速度标准还没有废除,所以该标准是以机械工业部颁标准出现的,是参考欧洲标准结合我国实际情况和需要制定的,以检测轴承振动速度来划分轴承的质量等级(等同于国家标准)。分为V、V1、V2、V3、V4五个质量等级。各种球轴承质量等级从低到高为V、V1、V2、V3、V4 ;辊子轴承(圆柱、圆锥)质量等级从低到高为V、V1、V2、V3四个质量等级。它是以检测轴承不同频率段(低频、中频、高频)的振动速度来反映轴承的质量。可以大体分析出轴承是否存在几何尺寸问题(如钢圈椭圆)、滚道/滚动体的质量问题,保持架的质量问题,比以振动加速度来考察轴承质量有了显著地进步。目前国内出口欧洲的轴承、我国军方和航天工业均按照该标准进行轴承质量检测,同时检测欧洲进口轴承质量和分辨假冒进口轴承提供了可行的手段。
        目前轴承质量检测存在两个标准并行的局面,而“Z标”质量等级很高的轴承,以“V标”检测时未必有好的质量表现,两者之间没有任何对应关系。这在轴承的质量检测中是要特别注意的。
二.以振动测量仪检测在用轴承
          轴承在运行中,ISO2372标准虽然是以振动速度来判断振动是否超标,但在现场实际中要特别关注轴承加速度值的变化,轴承的损坏过程大多是初期表现为疲劳损伤,这点一般可以表现为明显的加速度升高,随着疲劳的发展,逐渐出现振动速度和位移的升高,预示着轴承出现了疲劳破坏.特别对于轴承进行检测时,要细心关注振动值是否出现不稳定地摆动(建议使用模拟量的指针式仪器,可以观察的非常明显),如果出现摆动,预示着出现了不稳定的振动信号,加速度也大,特别是速度同时增大,极有可能存在轴承"耍套"故障.
        对于新设备,检测验收时,虽然振动很小,符合国家标准,但在轴承部位出现小幅度的振动摆动现象,排除轴承配合问题(耍套)后,极有可能是轴承几何尺寸存在问题,如轴承钢圈椭圆,滚动体经过椭圆长轴位置时,可能由于间隙减小造成滚动体瞬间卡死,后续滚动体继续挤压,使滚动体产生滑动摩擦,每一个滚动体都会在此出现滑动摩擦,造成不稳定信号出现.这个问题在检测山西220KW新电机中遇到,解体探察,检测轴承,证明判断完全正确.
        特别提示:在检查滚动轴承时,一定不要忽略轴承加速度值的变化.加速度更能够早期预报滚动轴承的故障.

二.国内轴承质量检测分析参考

1.国内轴承厂家产品质量分析参考(通过实际检测统计,在保证真品的前提下)
①深沟球轴承:瓦房店轴承公司、哈尔滨轴承公司、洛阳轴承公司的产品质量表现尚好。
②圆柱辊子轴承:浙江天马轴承公司的质量较好。
③圆锥辊子轴承:经过实际检测实验和走访国家轴承质量检验中心,目前国内只有浙江钱潮万向集团和福建余兆集团的轴承质量尚可。
④角接触球轴承:目前哈尔滨的胶木支架的轴承质量尚可。

三.进口轴承质量检测分析参考

        在进口轴承质量检验中,日本各型号真品轴承质量尚好;但目前发现某著名轴承的质量并不理想,原因是国内该轴承基本不是该公司本土生产。在对标称产地为马来西亚和澳大利亚的该牌号轴承检测中发现,其质量很不理想,甚至不如国内正规厂家的真品轴承。

提示:目前对各种形式的双列滚动体轴承和纯轴向推力轴承国家尚无相应的检测标准。对于角接触球轴承在满足规定的轴向载荷后,可参照深沟球轴承的的质量等级。




把滚动轴承放在试验台运转,使用冲击传感器检测,然后通过对采集的信息进行共振解调处理,可以用来判断轴承是否有内在故障或隐患。并且可以把故障或隐患确定到是保持架、外环、内环、滚子各个轴承部件上。

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内存分区情况的分析是嵌入式系统开发中的一个重要环节,特别是在资源有限的MCU(微控制器)环境中。标题提到的工具是一款专为分析Linux环境下的`gcc-map`文件设计的工具,这类文件在编译过程结束后生成,包含了程序在目标设备内存中的布局信息。这个工具可以帮助开发者理解程序在RAM、ROM以及FLASH等存储区域的占用情况,从而进行优化。 `gcc-map`文件通常包含以下关键信息: 1. **符号表**:列出所有定义的全局和静态变量、函数以及其他符号,包括它们的地址和大小。 2. **节区分配**:显示每个代码和数据节区在内存中的位置,比如.text(代码)、.data(已初始化数据)、.bss(未初始化数据)等。 3. **内存汇总**:总览所有节区的大小,有助于评估程序的整体内存需求。 4. **重定位信息**:显示了代码和数据如何在目标地址空间中定位。 该分析工具可能提供以下功能: 1. **可视化展示**:将内存分配以图形化方式呈现,便于直观理解。 2. **详细报告**:生成详细的分析报告,列出每个符号的大小和位置。 3. **比较功能**:对比不同编译版本或配置的`map`文件,查看内存使用的变化。 4. **统计分析**:计算各种内存区域的使用率,帮助识别潜在的优化点。 5. **自定义过滤**:允许用户根据需要筛选和关注特定的符号或节区。 虽然在MCU环境中,Keil IDE自带的工具可能更方便,因为它们通常针对特定的MCU型号进行了优化,提供更加细致的硬件相关分析。然而,对于通用的Linux系统或跨平台项目,这款基于`gcc-map`的分析工具提供了更广泛的适用性。 在实际使用过程中,开发者可以利用这款工具来: - **优化内存使用**:通过分析哪些函数或数据占用过多的内存,进行代码重构或调整链接器脚本以减小体积。 - **排查内存泄漏**:结合其他工具,比如动态内存检测工具,查找可能导致内存泄漏的部分。 - **性能调优**:了解代码执行时的内存分布,有助于提高运行效率。 - **满足资源限制**:在嵌入式系统中,确保程序能在有限的内存空间内运行。 总结来说,`gcc-amap`这样的工具对于深入理解程序的内存布局和资源消耗至关重要,它能帮助开发者做出更明智的决策,优化代码以适应不同的硬件环境。在处理`map`文件时,开发者不仅能获取到程序的内存占用情况,还能进一步挖掘出可能的优化空间,从而提升系统的整体性能和效率。
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