半导体禁带宽度测定：荧光光谱PL
半导体禁带宽度（Band Gap）的测定对于理解和优化半导体材料的电子性能至关重要；荧光法是一种常用的技术，用于测量半导体的禁带宽度。
一、原理
荧光法，也称为光致发光光谱法，是基于半导体材料在吸收光子后，电子从价带跃迁到导带，随
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