半导体材料工程与快速重离子的应用探索
1. 半导体简介
半导体是一类在常温下既非良导体也非绝缘体的元素和化合物。在绝对零度时,它们是理想的绝缘体,但在任何有限温度下,其导电性介于导体和绝缘体之间,因而得名。纯材料半导体,如锗和硅,被称为本征半导体;通过向某些物质中添加少量杂质原子制成的半导体,则称为非本征半导体。
常见的本征半导体硅(Si)和锗(Ge)属于间接带隙半导体,其导带底部和价带顶部的波矢(即动量)值不同,电子从价带顶部转移到导带底部时需要改变动量。而一些化合物半导体,如III - V族和II - VI族的GaAs、AlAs、InAs、GaN、AlN、InN、CdTe、CdSe等,属于直接带隙半导体,导带底部和价带顶部的波矢值相同。这些化合物半导体不仅具有直接带隙特性,还能通过适当掺杂或注入其他n型或p型元素来调控带隙,因此在电子器件应用中得到了广泛研究。近年来,它们在能源应用,特别是光伏材料领域的研究也取得了进展,打破了硅基太阳能电池的垄断地位。此外,化合物半导体还在超晶格和多量子阱的制备中发挥了重要作用。
2. 半导体中高电子激发的影响
2.1 离子辐照下的材料变化
在使用单原子离子束进行快速重离子(SHI)辐照时,晶体半导体GeS、InP、InAs、InSb、GaSb、Ge以及晶体SiGe合金中会形成连续和不连续的非晶轨迹,但Si和GaAs中未观察到这种现象。研究人员使用185 MeV的Au离子,通过卢瑟福背散射光谱、透射电子显微镜和小角X射线散射等方法,研究了III - V族二元半导体InP、GaP、InAs、GaAs及其相关三元合金Ga₀.₅₀In₀.₅₀P和Ga₀.₄₇In₀.₅₃As在SHI辐照下的变化。尽管这
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