基于NE555光耦好坏检测电路

基于NE555光耦好坏检测电路

基于NE555光耦好坏检测电路,主要用于带光耦元器件的PCBA电路板在线检测。当然单独的光耦也可以检测。

• 🍁原理图示：
  
  改变C2电容的容值大小，可以改变输出引脚3的PWM输出频率。推荐1-3uf范围，容值越大，输出的频率越低，LED闪烁频率也就低。

📗检测功能说明

• NE555主要是起到输出一个2-3Hz的pwm信号。
• 光耦正常情况下，LED1和LED2正常闪烁。
• 如果光耦内部的三极管损坏，3和4引脚短路的情况下，LED1常亮，3和4引脚断路的情况下，LED1不亮。
• 如果光耦内部的发光二极管端损坏，1和2脚断路的情况下，则LED3不亮。
• ✨该检测电路存在一定的局限性，如果光耦内部1和2引脚短路了，该电路则无法检测。需要利用万用表的二极管档位，对光耦的1和2引脚进行正反二次测量，正常情况下，只有其中一次的测量会有一个二极管的压降数值。如果使用万用表的电阻档测量，如果阻值为零，则说明短路了。

• 📺NE555输出引脚3波形：
  

• 硬件电路实物检测：
  

📑电路补充

🔖针对光耦1和2脚短路情况的判断，在1和2脚之间，增加一个电压比较器电路。

• 仿真电路测试：
  

• 光耦正常情况下，D2和D3都会闪烁。
• 当1和2引脚发生断路情况时，D2不会闪烁，D3常亮。
• 当1和2引脚发生短路情况时，D2会闪烁，D3常亮。