HALCON联合C#检测表面缺陷——检测缺陷原理（一）

奔跑的郑

于 2022-01-12 11:05:04 发布

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分类专栏： HALCON与C#联合编程winform框架文章标签： c# HALCON 缺陷检测框架例程

本文链接：https://blog.youkuaiyun.com/weixin_39829336/article/details/122447390

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本文介绍了使用HALCON进行表面缺陷检测的基本原理，包括软件检测界面布局、参数读取与写入、模板创建。文章指出，检测模板和参数的分离有利于缺陷检测的灵活性，并提供C#中优化代码的思路。通过分析Halcon自带的检测例程，为后续在C#中实现检测铺平道路。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

检测缺陷原理会分成很多篇来说，主要包括一下：

1.检测界面布局及后台代码

2.halcon例程分析以及导出

3.检测原理

4.在C#中如何优化检测代码

今天先说一下第一个知识点，软件检测界面的布局和代码。

这里和相机界面基本雷同，参数的读取，参数的写入，检测模板的创建。

后面我会说明为什么需要模板参数和检测参数两种，这样布局基本符合大部分缺陷检测的需要。

创建读取参数函数


        private void ReadDectionPara()
        {
            this.textBox26.Text = iniClass.ReadString("检测界面", "选择上限", "50", commClass.settingPath + "\\parameter.t

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