芯片验证工程师——C环境中常用的task定义

最新推荐文章于 2022-11-21 16:36:11 发布
最新推荐文章于 2022-11-21 16:36:11 发布
阅读量418 收藏 2
点赞数 1
分类专栏： 芯片验证自学入门教程 文章标签： c语言 开发语言
小 白 蒋
本文链接：https://blog.youkuaiyun.com/weixin_37413070/article/details/124721770
版权
本文介绍了芯片验证工程师在C环境中定义和使用task的常见操作，包括读写地址、定义写task、读task、使用sleep task以及测试用例的test_pass和test_fail情况。

摘要生成于 C知道 ，由 DeepSeek-R1 满血版支持， 前往体验 >

了解本专栏 订阅专栏 解锁全文
【数字IC前端笔试真题精刷（2022.8.14）】大疆——数字芯片开发工程师B卷
努力，加油每一天鸭~
05-09 1387
【数字IC前端笔试真题精刷（2022.8.14）】大疆——数字芯片开发工程师B卷
【数字IC前端笔试真题精刷（2022.8.7）】大疆——数字芯片开发工程师A卷
努力，加油每一天鸭~
05-06 1606
【数字IC前端笔试真题精刷（2022.8.7）】大疆——数字芯片开发工程师A卷
系统级芯片设计语言和验证语言的发展
weixin_30291791的博客
08-21 1150
http://hi.baidu.com/hieda/blog/item/9c8070465802fd0d6b63e50a.html 简 介：由于微电子技术的迅速发展和系统芯片的出现，包含微处理器和存储器甚至模拟电路和射频电路在内的系统芯片的规模日益庞大，复杂度日益增加。人们用传统的模拟方法难以完成设计验证工作，出现了所谓“验证危机”。为了适应这种形势，电子设计...
数字芯片验证工程师的自学之路——C语言
weixin_58503129的博客
10-11 1650
新人介绍。
芯片测试（c语言）
weixin_53535434的博客
03-20 3474
【问题描述】 有n(2<=n<=20)块芯片，已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好还是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。 给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。 【输入格式】 输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。 第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1<=i,j<=n)的
芯片测试（C语言）
YANGGEOL
03-30 3730
题目描述 将2片芯片(A和B)置于测试台上，互相进行测试，测试报告是“好”或“坏”，只取其一。假设好芯片的报告一定是正确的，坏芯片的报告是不确定的(可能会出错）。输入n片芯片，其中好芯片至少比坏芯片多1片。设计一种测试方法，通过测试从n片芯片中挑出1片好芯片。 输入 第一行是一个整数n，表示芯片数。 第二行是n个整数，表示芯片“好”或“坏”的整数(任意整数，不一定是1或0)。 输出 好芯片的编号(从1开始计)。 样例输入 7 1 1 1 1 0 0 0 样例输出 1 代码 #include <stdi
芯片测试C语言
qq_37264463的博客
01-18 2923
问题描述　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。输入格式　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每
嵌入式工程师成长之路（2）——电路设计
热门推荐
云轩阁
01-26 11万+
为什么你的电源模块总是发热炸机？DC/DC和LDO选型的“潜规则”你踩坑了吗？ LM2596降压芯片用错电容导致输出振荡？LED恒流驱动设计让灯珠寿命缩水50%？24V转12V方案成本超预算被老板狂喷？——这些血泪教训，谁能懂得！
数字ic验证工程师面试题|ic验证面试常问88道
weixin_52955333的博客
10-28 4282
给大家列了88道数字ic验证工程师常问面试题，帮助大家做面试准备，希望大家可以过五关斩六将，成功拿到满意的offer!
嵌入式工程师成长之路（4）——元件焊接
云轩阁
01-30 3万+
焊接贴片元件总体而言是固定——焊接——清理这样一个过程。其中元件的固定是焊接好坏的前提，一定要有耐心，确保每个管脚和其所对应的焊盘对准精确。在焊接多管脚芯片时，对管脚被焊锡短路不用担心，可以用吸锡带进行吸焊或者就只用烙铁利用焊锡熔化后流动的因素将多余的焊锡去除。
c语言测试芯片好坏
weixin_30443075的博客
05-29 460
问题描述有n个（2<n<20）芯片，好的或坏的，并且有比坏的芯片更多的已知的好的芯片。每个芯片都可以用来测试其他芯片。当用一个好的芯片测试其他芯片时，它可以正确地给出被测芯片是好是坏。当用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好的或坏的测试结果（也就是说，这个结果与被测芯片的实际质量无关）。给出所有芯片的测试结果，并询问哪些芯片是好的芯片。输入格式输入数据的第一个动作是一个整数n，它表示芯片...
芯片验证的策略篇（作者良心大作，验证必看）
qq_28541715的博客
04-02 1719
我们在上一章芯片 芯片验证全视 中给出过芯片产品开发的流程图，而在描述中我们将开发流程分为了两条主线： 芯片功能的细分 不同人员的任务分配 即是说不同人员需要在硅前的不同阶段实现和测试芯片的模块功能。 如果我们从另外一个角度看，芯片的开发即是将抽象级别逐次降低的过程，从一开始的抽象自然语言描述到硬件的HDL语言描述再到最后的门级网表。而在我们已经介绍过RTL设计和门级网表以后，这里需要引入一个目前更高抽象级的描述TLM（事务级模型，transaction level models）
ccs工程文件类型和作用
Sir_Rain的博客
08-09 1万+
CCS建立一个完整的工程，至少需要以下4个文件：存储器分配cmd文件、C语言系统库rts2xx.lib、包含main函数的c源文件、矢量跳转表asm汇编文件。 （1）cmd命令文件是用来分配存储空间的。 （2）rts2xx.lib是C语言系统库，包含了编译器提供的所有功能：①初始化C语言环境（入口地址是_c_int0），②设置堆栈，③提供标准的c语言函数库。 （3）有且只有一个包
ic验证学习笔记2
weixin_57475969的博客
11-21 307
字符串类型： SV引入string类型来容纳可变长度的字符串，存储单元为byte类型。string类型变量长度为N，其索引值为0到N-1。字符串结尾没有空字符（\0）。内存是动态分配的，无需担心内存空间管理。 Str.len（）：返回字符串的长度。 Str.putc（i，c）：将第i个字符替换为字符c，等同于str[i]=c Str.getc(i):返回第i个字符。 Str.substr（i，j）：将第i个字符到第j个字符的字符串返回。 Str.{atoi（），atohex（），atooct，atobin}
芯片设计需要C语言验证,我对IC设计流程的一些理解（数字IC部分）
weixin_32520565的博客
05-22 2185
我认为IC设计流程按照功能和应用场合不同大致可以划分为三个部分进行介绍，分别是数字IC、模拟IC和FPGA。这三者之间既有相同点又有相异点。在进行设计时，所使用的软件工具也有相同和不同的。1、数字ASIC设计流程前端到后端使用工具通用型数字ASIC(从上到下)在验证算法时一般使用C语言或者verilog来对系统算法进行建模，使用行为级描述来对算法功能的正确与否进行仿真。一般比较常用的方法是使用C语...
soc验证 c语言,一种Soc芯片验证方法与流程
weixin_34622572的博客
05-22 4289
本发明涉及Soc芯片设计及制造领域，特别涉及一种Soc芯片验证方法。背景技术：随着设计与工艺技术的不断发展，集成电路设计的规模越来越大，复杂度越来越高，为了缩短芯片的上市时间，节约开发成本，多家IP的集成也渐渐成为主流，即SoC(System-on-Chip)技术发展越来越成熟，但也带来SoC的验证复杂度呈现指数级的增长。因此，一个高效的验证平台使得验证迅速收敛显得尤为重要。验证的收敛与激励产生的...
c调用c++函数_芯片验证中SV与C或C++之间DPI调用的两种调用方法
weixin_39927214的博客
11-29 1079
我们芯片验证的过程中，会遇到verilog或者system verilog调用C/C++编写的函数，常用的方法是，通过import或者export的方法直接调用原始函数，这一种方法最常见。今天我给大家讲述另一种调用方法，具体如下：假如说，你为了便于版本管理或者出于保密或者私心，你不想让其他人看到你原始函数的写法，但又不得不让别人调用你的函数来做验证的话，那么你可以将你的C/C++的文件编译成一个中...
芯片测试
攀大小熊猫的专栏
03-16 2252
基础练习 芯片测试   时间限制：1.0s   内存限制：512.0MB        问题描述 　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。 　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。 　　给出所有芯
关于芯片验证的感悟4
takeshineshiro的博客
01-09 391
1.4  refer-c 和DPI 接口设计          SV 方面：        如果SV 和 C++ 交互为对象 ：  import   “DPI-C" function chandle  getWrapperInstance() ; 来获取对象 ；        如果SV 和C++ 交互为函数：     import  "DPI-C" function  void  syste...
Multisim10中8051单片机的C语言仿真——11进制计数器实现
在C语言程序中，用户可能需要定义计数变量、设定计数上限、并编写循环结构以实现递增计数。同时，通过输出端口将当前计数值显示在LED显示器上，以便观察计数过程。 Multisim10提供了强大的8051/8052单片机仿真环境...
评论
添加红包

请填写红包祝福语或标题

个

红包个数最小为10个

元

红包金额最低5元

当前余额3.43元 前往充值 >
需支付：10.00元
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包

打赏作者

小白蒋博客

你的鼓励将是我创作的最大动力

¥1 ¥2 ¥4 ¥6 ¥10 ¥20
扫码支付：¥1
获取中
扫码支付

您的余额不足，请更换扫码支付或充值

打赏作者

实付元
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明：

1.余额是钱包充值的虚拟货币，按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载，可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值