单片机光敏电阻控制蜂鸣器_基于单片机控制的光强测试器的设计

龙源期刊网

http://www.qikan.com.cn

基于单片机控制的光强测试器的设计

作者：刘会巧

来源：《数字技术与应用》

2017

年第

08

期

摘要：本文以

ATmega8

单片机作为控制中心，通过使用光敏电阻对光的灵敏度设计光强

测试器。该仪器可以实现测试不同等级的光照强度，并能够显示光照等级，并对无光状态进行

报警的功能。

关键词：单片机；光敏电阻；光照强度；等级

中图分类号：

TP316.2

文献标识码：

A

文章编号：

1007-9416

(

2017

)

08-0003-02

光强测量器与人们的生活密切相关，不同的场所对于照度的要求不同，如果没有合理控制

好照度，会直接影响生产和生活，甚至影响到健康和安全，所以有必要对不同的场所利用光强

测试器进行光强测量控制。因此本文通过用单片机设计结合光敏电阻进行对光强测试器的设

计。

1

系统设计方案

1.1

设计目的

本文的设计目的是光强测试器能够测试不同的光照强度等级，并显示出光强等级，对无光

状态进行报警。

为了实现此功能，我们需要

AVR

单片机，需要光敏电阻实现测试光照强度，光敏电阻根

据外界光线的强弱改变它的阻值；用阻容电路根据光敏电阻阻值变化导致电容充放电时间不同

来判定光强；需要蜂鸣器，当没有光线的时候进行报警。

1.2

软件设计

根据光照强度器的设计目的，我们需要对

AVR

单片机进行编程以便实现显示光强等级等

功能。

其中实现输出光强等级的程序：

TCNT0=0

；

TCNT1=0

；

//

定时器清零

DDRC&=

～

_BV

(

PC0

)；

DDRC&=

～

_BV

(

PC1

)；

while

((

PINC&0x01

)！

=0&&

(

PINC&0x02

)！

=0

)；