DFT--Design For Test

 

一、DFT概念：可测试性设计

• 狭义理解：是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。

• 广义理解：不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。

二、DFT存在的意义

• 筛选出出错的芯片：open/break
• 定位错误位置
• 提高工艺，提高良率。

浴盆曲线.png

故：不能实现质量的100%。

三、功能性测试 pk DFT

DFT pk 功能性测试.png

测试的三个阶段：越早发现错误越好

• 1 Wafer Sort (CP: circuit probe) ---晶圆未切割封装，记号笔标错（die）
• 2 Final Test（FT）----封装之后
• 3 Board test :焊接到PCB板上测试，测试对象是边界、IO、ESD、burt-in test(老化测试）等

四、DFT流程概述