Design for Test OCC概念

最新推荐文章于 2025-02-24 20:16:49 发布
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博客主要围绕Design for Test OCC概念展开，但具体内容缺失。推测可能会涉及该概念的定义、特点、应用场景等信息技术相关内容。

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从数字后端角度谈谈occ电路（一）
芯冰乐
09-12 258
摘要：本文介绍了芯片测试中OCC（On-Chip Clock Control）电路的设计与应用。随着工艺进步，芯片制造面临Stuck-at、Bridging和Delay等故障类型，需要不同时钟频率进行测试。OCC电路通过Clock Selection、Clock Chopping Control和Clock Gating三个模块，实现ATE时钟与PLL时钟的切换控制，支持慢速时钟检测Stuck-at故障和快速时钟检测Delay故障。文章详细解析了OCC电路结构及各模块功能，包括同步单元、移位寄存器等关键组件
简述有效提高DFT设计测试覆盖率的方法
10-22
随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个方面：一个是可控制性，即为了能够检测出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加测试向量；另外一个是可观测性，指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到。在集成电路（Integrated Circuit,简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括
design for test 基础
05-29
基本的DFT知识，入门用. 中文版，描述简单，明了，非图片
Essentials of Electronic Testing-（Design for Test）
01-31
讲述集成电路很好全面的一本书，从测试的基本概念，到常用的测试方法，以及IC内部不同部分的测试方案等，均有介绍，是学习Design for test(DFT)非常有用的资料。
Design For Test
04-09
英文原版教材， 对软件测试很有帮助
DFT--Design For Test
u012521203的专栏
08-27 3624
一、DFT概念：可测试性设计 狭义理解：是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。 广义理解：不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。 二、DFT存在的意义 筛选出出错的芯片：open/break 定位错误位置 提高工艺，提高良率。 浴盆曲线.png 故：不能实现质量的100%。 三、功能性测试 pk DFT DFT pk 功能性测试.png 测试的三个阶段：越早发...
DFT（Design For Test）
网始如芯个人博客
01-13 3205
DFT
Design For Test（English PDF）
05-05
做数字IC设计必备的知识，该书详细介绍了数字IC设计中的各种测试方法，是可测性设计（DFT）教材中不可多得的一本好书
DFT(Design for Test)
weixin_30815427的博客
03-24 1184
1、避免异步反馈； 2、移除竞争冒险； 3、分割大计数器； 4、利用空闲的引脚来增加内部电路节点的可控制性和可观测性（controllability and observability)； 5、使电路可以初始化到一个已知状态； 6、Use scan testing where appropriate on register elements that are clocked o...
MCU中DFT设计之OCC扫描链插入技术详解
在MCU（Microcontroller Unit，微控制器）的学习与开发过程中，DFT（Design for Testability，可测性设计）是一个至关重要的技术领域，尤其是在芯片级设计、验证和量产测试中。本文标题为“MCU学习笔记_DFT[代码]”...
数字IC后端设计实现OCC(On-chip Clock Controller)电路介绍及时钟树综合案例
最新发布
weixin_37584728的博客
02-24 3307
数字IC后端设计实现OCC(On-chip Clock Controller)电路介绍及时钟树综合案例
Design-For-Test For Digital IC's and Embedded Core Systems
01-08
数字IC可测性设计的经典书籍，适合IC设计的研究生，博士生和工程师。
design test
03-31
NULL 博文链接：https://zhangyulong.iteye.com/blog/1336957
design rules check: S rules
weixin_44954910的博客
06-21 1306
对于复杂的scan模型，包括多个scan input和scan output pins，在这种情况下，工具识别控制这些嵌入式scan segments的时钟，并在S-rules分析期间只target这些时钟。该rules确保可能被转变为scan的non-scan elements能够被控制，以保持它们当前的数据（违例情况是当所有时钟被关闭时，某个时钟端口被设为X，或另一种情况，时钟是pulse_always，无法关闭）。如果这些pins未被约束，并且导致可扫描的，会发生trace违例。
DFT OCC详细介绍
01-17
为了提高芯片内部状态的可见性和可控性，DFT (Design For Testability) OCC (On-Chip Controller) 成为一种重要的解决方案[^1]。 #### 原理 OCC 是嵌入在 SoC 或 ASIC 中的一种专用硬件模块，主要负责管理内置自测...
[转] DFT--Design For Test
qq_35618306的博客
09-03 2150
转载自：https://www.jianshu.com/p/737dd92fe81d 一、DFT概念：可测试性设计 **狭义理解：**是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。 **广义理解：**不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。 二、DFT存在的意义 筛选出出错的芯片：open/break 定位错误位置 提高工艺， 提高良率。 故：不能实现质量的100%。 三、功能性测试 pk
DFT(design for test）
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buzhiquxiang的博客
03-18 1万+
DFT:全称是 Design for Test，可测性设计，通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。 (随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个...
【PCB专题】可测试性设计（Design for Test）
一点硬件
06-24 1035
对于设计工程师来说，设计一块 PCB 需要经过许多步骤和个版本的迭代，付出大量的时间和工作。如果能在设计周期的早期阶段实施适当的可测试性设计 (DFT)，那会有助于我们项目成功。
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