材料表面特性的光谱研究:铟纳米线与锶镧纳米铁氧体
1. 铟纳米线终止的 Si(111) 表面的表面共振拉曼光谱研究
1.1 引言
材料的振动特性与其原子结构密切相关。振动光谱学已收集了有关分子、固体或表面等不同凝聚态物质系统结构的大量信息。拉曼光谱(RS)是一种传统的光谱方法,近年来也成功用于探测表面声子。表面共振拉曼光谱可用于研究半导体表面的结构形成,特别是准确的拉曼频率和拉曼选择规则与表面结构相关,对验证不同的结构模型很有价值。本文讨论了在 Si(111) 上铟纳米线的 (4 × 1) 和 (8 × 2) 重构的拉曼模式,并结合其他实验和理论结果讨论表面声子模式。
1.2 实验方法
- 实验装置 :拉曼测量在近背散射几何结构的装置中进行,该装置连接到超高真空(UHV)容器。UHV 容器配备了液氮冷却台、铟蒸发的克努森池、低能电子衍射(LEED)、俄歇电子能谱(AES)、扫描隧道显微镜(STM)和光学窗口。
- 样品制备 :使用向 [-1 -1 2] 方向偏角 1° 的邻位 Si(111) 样品。通过反射各向异性光谱(RAS)原位监测 (8 × 2) 表面相变。
- 测量过程 :入射激光束以 50° 入射角照射样品,散射光聚焦到三重单色仪的入口狭缝,由液氮冷却的 CCD 阵列检测。拉曼光谱的频率刻度使用氩和氪等离子体线校准。使用 647 nm(1.91 eV)的氪离子激光进行测量,光谱分辨率约为 1.5 cm⁻¹,拉曼强度归一化到硅的对称允许体横向光学(TO)声子。