图像上采样：双线性插值，Deconv，Spatial transform

最新推荐文章于 2025-05-20 13:38:13 发布

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CC 4.0 BY-SA版权

分类专栏：计算机视觉深度学习

本文链接：https://blog.youkuaiyun.com/qq_42277222/article/details/82726864

本文介绍了图像上采样的三种方法：双线性插值、Deconvolution（反卷积）和Spatial Transform。在双线性插值中，通过计算目标像素在源图像中的浮点位置并利用周围四个像素点进行插值。Deconvolution通过特定卷积核大小和padding实现上采样，并初始化为双线性插值权重。Spatial Transform则通过仿射变换实现图像的裁剪、平移、缩放和旋转，包括Localisation net、Grid generator和Sampler三个部分。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

一.图像下采样的方法

双线性插值
Deconv，反卷积
Spatial transform

二.具体细节

1. 双线性插值

首先根据以下式子来计算目标像素在源图像中的位置，一般srcX和srcY是浮点数。比如f(1.2,3.4)这个像素点是虚拟存在的。

1. 按比例对应
srcX = dstX * (srcWidth/dstWidth)
srcY = dstY * (srcHeight/dstHeight)

2. 按比例对应最后一列无法参与计算，所以按几何中心对应
用这个！！
SrcX+0.5 = (dstX+0.5) * (srcWidth/dstWidth)
SrcY+0.5 = (dstY+0.5) * (srcHeight/dstHeight)