法国Phasics波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪

Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。

1.    技术特点

◆高分辨率（高达300 x400个采样点)

◆消色差

◆高动态范围

◆高灵敏度

◆操作简便

◆设计简洁紧凑

◆高性价比

 

 

2.技术优势

◆高分辨率的相位图

能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。

 

◆具有直接测量高发散光束的能力

我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。

 

SID4波前探测器

 

 

测试条件下光路系统

 

光源

准直镜

 

◆消色差

SID4探测器能够匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准，也能用于多色光源。

 

◆对准方便

SID4探测器无需精确的，很繁冗的校准步骤。分析算法为校准波前探测器提供便利。当布好探测器和光源后，