Q137：PBRT-V3，各种采样（Sampling）之间的逻辑

文章内容是小编个人当前对PBRT-V3的理解，可能和实际有偏差。

一、概述

PBRT-V3中最直观最常用到采样的地方有：
采样0，对单位正方形进行采样；
采样1，对Film上的每个像素点进行多次采样；
采样2，对交点处的BSDF进行采样；
采样3，对具体光源进行采样；
采样4，从所有光源中随机选取一个光源；

另外一个不怎么常用到的采样是：
采样5，Metropolis Sampling（这个是用在MLT Integrator中）

二、采样0，对单位正方形进行采样

对单位正方形进行采样，是为了从单位正方形上获取一个采样点。

“单位正方形采样”的方式很多，如上图所示的包含三种采样方式：随机采样；均匀分层采样；抖动分层采样。
按照PBRT-V3上介绍的相关采样方式有：RandomSampler, StratifiedSampler, HaltonSampler, ZeroTwoSequenceSampler, MaxMinDistSampler, SobolSampler, ……
（不同的采样方式之间的区别在于：采样点在单位正方形上的分布不一样）。

二、采样1，采样2，采样3

采样1，对Film上的每个像素点进行多次采样；
采样2，对交点处的BSDF进行采样；
采样3，对具体光源进行采样；

涉及这三种采样的情况如下方图示：

2.1 采样1，对Film上的每个像素点进行多次采样

这个是给定一个像素点位置，然后在该像素点所在的单位正方形进行采样，获取采样点。（即：“采样1”是直接使用“采样0”）

相关代码截图：