本文详细介绍了在数字芯片的FT测试中，如何通过删除多余port来优化SCANCHAIN测试。首先，需要准备.SPFF、PR后网表及spfgen.pl文件。接着，修改网表以保留仅与scan相关的port，再利用spfgen.pl和配置文件自动生成匹配的新.SPFF文件，从而解决tmax运行时的DRC错误。最后，使用修改后的网表和新.SPFF文件进行tmax，得到不含多余port的stil或wgl文件，确保FT测试的有效性和效率。
背景：对数字芯片进行scan chain测试时会有两种方式，一种是CP测试，一种是FT测试。CP测试可以理解成封装前裸die的测试，FT测试是封装后整颗芯片的测试。想要在FT测试时对数字芯片做scan chain的测试，就需要把多余的port删除。因为不会把所有的数字部分的电路port封装出来。
处理方法：
1.首先，需要具备的文件：.SPF文件（DC综合生成的）；网表文件（PR后的.V）；spfgen.pl文件(Synopsys安装包里面可以找到/tools/Synopsys/txs_vl-2016.03-sp2/auxx/syn/tmax)。
2.然后，修改网表文件，一般数字PR后的网表包含很多PORT，这时需要修改成只保留与scan的相关port。修改方法：新建一个module只保留scan相关port，然后例化pr后网表的top层，其余port悬空。如下图：
修改前的网表：
修改后的网表：
3.此时做tmax时，run_drc会出错，因为网表改掉后与.
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