单片机学习————STM32单片机入门（三）

4 存储器映像

图9 存储器图

5 .电气特性

5.1测试条件 除非特别说明，所有电压的都以VSS为基准。

5.1.1 最小和最大数值 除非特别说明，在生产线上通过对100%的产品在环境温度TA=25°C和TA=TAmax下执行的测试 (TAmax与选定的温度范围匹配)，所有最小和最大值将在最坏的环境温度、供电电压和时钟频率条件 下得到保证。 在每个表格下方的注解中说明为通过综合评估、设计模拟和/或工艺特性得到的数据，不会在生产线 上进行测试；在综合评估的基础上，最小和最大数值是通过样本测试后，取其平均值再加减三倍的 标准分布(平均±3∑)得到。

5.1.2 典型数值 除非特别说明，典型数据是基于TA=25°C和VDD=3.3V(2V ≤ VDD ≤ 3.3V电压范围)。这些数据仅用于设 计指导而未经测试。 典型的ADC精度数值是通过对一个标准的批次采样，在所有温度范围下测试得到，95%产品的误差 小于等于给出的数值(平均±2∑)。

5.1.3 典型曲线 除非特别说明，典型曲线仅用于设计指导而未经测试。

5.1.4 负载电容 测量引脚参数时的负载条件示于图10中。

图10 引脚的负载条件

                                     

5.1.5 引脚输入电压 引脚上输入电压的测量方式示于图11中。

图11 引脚输入电压

                                     

5.1.6 供电方案

图12 供电方案

注：上图中的4.7μF电容必须连接到VDD3。

5.1.7 电流消耗测量 图13 电流消耗测量方案

5.2 绝对最大额定值 加在器件上的载荷如果超过’绝对最大额定值’列表(表6、表7、表8)中给出的值，可能会导致器件永久 性地损坏。这里只是给出能承受的最大载荷，并不意味在此条件下器件的功能性操作无误。器件长 期工作在最大值条件下会影响器件的可靠性。5.3 工作条件

5.3.1 通用工作条件

5.3.2 上电和掉电时的工作条件

下表中给出的参数是在一般的工作条件下测试得出。

表10 上电和掉电时的工作条件

5.3.3 内嵌复位和电源控制模块特性

下表中给出的参数是依据表9列出的环境温度下和VDD供电电压下测试得出。

表11 内嵌复位和电源控制模块特性