design test

最新推荐文章于 2023-07-28 15:51:22 发布
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博客内容提及了设计和测试相关信息，虽简短但表明涉及这两个信息技术领域要点。
design test
iteye_20054
关注
【PCB专题】可测试性设计（Design for Test）
一点硬件
06-24 1034
对于设计工程师来说，设计一块 PCB 需要经过许多步骤和个版本的迭代，付出大量的时间和工作。如果能在设计周期的早期阶段实施适当的可测试性设计 (DFT)，那会有助于我们项目成功。
design for test 基础知识
weixin_38413739的博客
06-18 1184
通过在芯片中嵌入专门的测试电路和逻辑，MBIST技术可以自动生成和执行存储器的测试模式，以检测和诊断存储器单元中的故障。选择合适的故障覆盖率指标和相应的测试策略，可以提高测试的全面性和准确性，从而增强电路的可靠性和可测试性。故障覆盖率是衡量测试质量和测试效果的一个重要指标，它表示在测试过程中成功检测到的故障占总故障数的比例。通过遵循这些原则，可以减少测试的难度和成本，提高测试覆盖率，并确保设计的可靠性和稳定性。同时，隔离性还可以减少测试过程中可能引入的不必要的故障和干扰，提高测试的效率和可重复性。
Design For Test
04-09
英文原版教材， 对软件测试很有帮助
DFT--Design For Test
u012521203的专栏
08-27 3624
一、DFT概念：可测试性设计 狭义理解：是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。 广义理解：不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。 二、DFT存在的意义 筛选出出错的芯片：open/break 定位错误位置 提高工艺，提高良率。 浴盆曲线.png 故：不能实现质量的100%。 三、功能性测试 pk DFT DFT pk 功能性测试.png 测试的三个阶段：越早发...
DFT（Design For Test）
网始如芯个人博客
01-13 3205
DFT
Test_Case_Design.rar_Case design_Test_Case_Design_test case desi
09-20
"Test_Case_Design.rar_Case design_Test_Case_Design_test case desi"这个文件标题暗示了我们即将探讨的是关于测试用例设计的文档，可能是针对某个特定项目或系统的测试策略。这个文档可能包含了对不同测试元素的...
DFT Compiler RTL Test Design Rule Checking User Guide
03-22
DFT Compiler RTL Test Design Rule Checking User Guide 本用户指南旨在帮助用户熟悉 DFT Compiler RTL Test Design Rule Checking 工具的使用。该工具是一款功能强大且灵活的设计规则检查工具，旨在帮助用户确保...
Design for test
03-22
Design for Test (DFT) Design for Test (DFT) 是一种在数字IC和嵌入式核心系统设计中，旨在提高可测试性的设计方法。该方法通过在设计阶段考虑测试问题，降低了测试的难度和成本，从而提高了产品的可靠性和质量。 ...
Design For Test（English PDF）
05-05
做数字IC设计必备的知识，该书详细介绍了数字IC设计中的各种测试方法，是可测性设计（DFT）教材中不可多得的一本好书
DFT(Design for Test)
weixin_30815427的博客
03-24 1184
1、避免异步反馈； 2、移除竞争冒险； 3、分割大计数器； 4、利用空闲的引脚来增加内部电路节点的可控制性和可观测性（controllability and observability)； 5、使电路可以初始化到一个已知状态； 6、Use scan testing where appropriate on register elements that are clocked o...
Design-For-Test For Digital IC's and Embedded Core Systems
01-08
数字IC可测性设计的经典书籍，适合IC设计的研究生，博士生和工程师。
Essentials of Electronic Testing-（Design for Test）
01-31
讲述集成电路很好全面的一本书，从测试的基本概念，到常用的测试方法，以及IC内部不同部分的测试方案等，均有介绍，是学习Design for test(DFT)非常有用的资料。
design for test 基础
05-29
基本的DFT知识，入门用. 中文版，描述简单，明了，非图片
简述有效提高DFT设计测试覆盖率的方法
10-22
随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个方面：一个是可控制性，即为了能够检测出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加测试向量；另外一个是可观测性，指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到。在集成电路（Integrated Circuit,简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括
[转] DFT--Design For Test
qq_35618306的博客
09-03 2150
转载自：https://www.jianshu.com/p/737dd92fe81d 一、DFT概念：可测试性设计 **狭义理解：**是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。 **广义理解：**不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。 二、DFT存在的意义 筛选出出错的芯片：open/break 定位错误位置 提高工艺， 提高良率。 故：不能实现质量的100%。 三、功能性测试 pk
DFT(design for test）
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buzhiquxiang的博客
03-18 1万+
DFT:全称是 Design for Test，可测性设计，通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。 (随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个...
Design for Test OCC概念
Coldplaygravity的博客
07-28 99
集成电路可测性设计(DFT，Design For Testability)
孜孜不倦
12-22 7246
随着半导体集成电路产业的迅猛发展，设计方法、制造方法和测试方法已经成为集成电路发展过程中不可分割的三个部分。 随着集成电路的高度集成化，最开始的徒手画电路图已经被淘汰，取而代之的是一套规范的硬件描述语言(HDL)，现在我们使用Verilog HDL可以描述几乎所有逻辑功能和需要的数字电路，只有一些特殊的电路比如数模混合接口等，还需要直接用器件画电路图。 随着设计方法的更新升级，制造方法当然也没...
design for test
最新发布
01-01
这些原则不仅适用于常规开发过程中的架构设计，在构建测试框架和支持测试驱动开发(Test Driven Development, TDD)方面同样重要。 #### 单一职责原则 (Single Responsibility Principle) 单一职责原则指出每一个类...
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