design test

最新推荐文章于 2023-07-28 15:51:22 发布
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博客内容提及了设计和测试相关信息，虽简短但表明涉及这两个信息技术领域要点。
design test
iteye_20054
关注
design for test 基础知识
weixin_38413739的博客
06-18 1138
通过在芯片中嵌入专门的测试电路和逻辑，MBIST技术可以自动生成和执行存储器的测试模式，以检测和诊断存储器单元中的故障。选择合适的故障覆盖率指标和相应的测试策略，可以提高测试的全面性和准确性，从而增强电路的可靠性和可测试性。故障覆盖率是衡量测试质量和测试效果的一个重要指标，它表示在测试过程中成功检测到的故障占总故障数的比例。通过遵循这些原则，可以减少测试的难度和成本，提高测试覆盖率，并确保设计的可靠性和稳定性。同时，隔离性还可以减少测试过程中可能引入的不必要的故障和干扰，提高测试的效率和可重复性。
Design For Test
04-09
英文原版教材， 对软件测试很有帮助
DFT--Design For Test
u012521203的专栏
08-27 3517
一、DFT概念：可测试性设计 狭义理解：是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。 广义理解：不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。 二、DFT存在的意义 筛选出出错的芯片：open/break 定位错误位置 提高工艺，提高良率。 浴盆曲线.png 故：不能实现质量的100%。 三、功能性测试 pk DFT DFT pk 功能性测试.png 测试的三个阶段：越早发...
DFT（Design For Test）
网始如芯个人博客
01-13 3112
DFT
Test_Case_Design.rar_Case design_Test_Case_Design_test case desi
09-20
"Test_Case_Design.rar_Case design_Test_Case_Design_test case desi"这个文件标题暗示了我们即将探讨的是关于测试用例设计的文档，可能是针对某个特定项目或系统的测试策略。这个文档可能包含了对不同测试元素的...
Mentor-dft 学习笔记 day44-Low-Power Design Test
qq_42327670的博客
12-19 1884
Low-Power Design Test
DFT Compiler RTL Test Design Rule Checking User Guide
03-22
DFT Compiler RTL Test Design Rule Checking User Guide 本用户指南旨在帮助用户熟悉 DFT Compiler RTL Test Design Rule Checking 工具的使用。该工具是一款功能强大且灵活的设计规则检查工具，旨在帮助用户确保...
Design For Test（English PDF）
05-05
做数字IC设计必备的知识，该书详细介绍了数字IC设计中的各种测试方法，是可测性设计（DFT）教材中不可多得的一本好书
DFT(Design for Test)
weixin_30815427的博客
03-24 1168
1、避免异步反馈； 2、移除竞争冒险； 3、分割大计数器； 4、利用空闲的引脚来增加内部电路节点的可控制性和可观测性（controllability and observability)； 5、使电路可以初始化到一个已知状态； 6、Use scan testing where appropriate on register elements that are clocked o...
Design-For-Test For Digital IC's and Embedded Core Systems
01-08
数字IC可测性设计的经典书籍，适合IC设计的研究生，博士生和工程师。
Essentials of Electronic Testing-（Design for Test）
01-31
讲述集成电路很好全面的一本书，从测试的基本概念，到常用的测试方法，以及IC内部不同部分的测试方案等，均有介绍，是学习Design for test(DFT)非常有用的资料。
design for test 基础
05-29
基本的DFT知识，入门用. 中文版，描述简单，明了，非图片
简述有效提高DFT设计测试覆盖率的方法
10-22
随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个方面：一个是可控制性，即为了能够检测出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加测试向量；另外一个是可观测性，指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到。在集成电路（Integrated Circuit,简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括
[转] DFT--Design For Test
qq_35618306的博客
09-03 2037
转载自：https://www.jianshu.com/p/737dd92fe81d 一、DFT概念：可测试性设计 **狭义理解：**是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。 **广义理解：**不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。 二、DFT存在的意义 筛选出出错的芯片：open/break 定位错误位置 提高工艺， 提高良率。 故：不能实现质量的100%。 三、功能性测试 pk
DFT(design for test）
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buzhiquxiang的博客
03-18 1万+
DFT:全称是 Design for Test，可测性设计，通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。 (随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个...
【PCB专题】可测试性设计（Design for Test）
一点硬件
06-24 973
对于设计工程师来说，设计一块 PCB 需要经过许多步骤和个版本的迭代，付出大量的时间和工作。如果能在设计周期的早期阶段实施适当的可测试性设计 (DFT)，那会有助于我们项目成功。
Design for Test OCC概念
Coldplaygravity的博客
07-28 88
集成电路可测性设计(DFT，Design For Testability)
孜孜不倦
12-22 7097
随着半导体集成电路产业的迅猛发展，设计方法、制造方法和测试方法已经成为集成电路发展过程中不可分割的三个部分。 随着集成电路的高度集成化，最开始的徒手画电路图已经被淘汰，取而代之的是一套规范的硬件描述语言(HDL)，现在我们使用Verilog HDL可以描述几乎所有逻辑功能和需要的数字电路，只有一些特殊的电路比如数模混合接口等，还需要直接用器件画电路图。 随着设计方法的更新升级，制造方法当然也没...
design for test
最新发布
01-01
### 关于软件设计原则与模式 对于软件设计的原则，通常会提到SOLID这五个核心的设计准则[^1]。这些原则不仅适用于常规开发过程中的架构设计，在构建测试框架和支持测试驱动开发(Test Driven Development, TDD)方面同样重要。 #### 单一职责原则 (Single Responsibility Principle) 单一职责原则指出每一个类应该只有一个引起它变化的原因。当应用于测试环境时，这意味着每个单元测试也应专注于验证单个功能点或行为。这样做可以确保如果某个特定部分出现问题，则只有相关的测试失败，便于快速定位问题所在。 ```java // 测试案例应当简洁明了，只针对某一具体逻辑进行检验 @Test public void testAddition() { Calculator calc = new Calculator(); assertEquals(4, calc.add(2, 2)); } ``` #### 开放封闭原则 (Open/Closed Principle) 开放封闭原则强调模块应该是可扩展但是不可修改的。在测试领域内，这一理念可以通过创建抽象基类来实现，允许通过继承的方式增加新的测试而无需改动现有代码结构。这样做的好处是可以轻松添加更多类型的测试而不影响已有的稳定性。 ```python class BaseTest(unittest.TestCase): def setUp(self): self.calculator = Calculator() class TestSubtraction(BaseTest): # 继承BaseTest以利用其setUp方法 @unittest.skipIf(True, "Example skip condition") def test_subtract_positive_numbers(self): result = self.calculator.subtract(5, 3) self.assertEqual(result, 2) ``` #### 接口隔离原则 (Interface Segregation Principle) 接口隔离原则提倡客户端不应该依赖它们不使用的接口；即不应强迫任何组件去实现不必要的成员函数。对于自动化测试来说，意味着要定义清晰的小型接口供不同级别的测试调用——比如集成测试只需要关心服务层API的表现形式，而不是内部的具体实现细节[^4]。 #### 里氏替换原则 (Liskov Substitution Principle) 该原则要求子类型必须能够完全替代父类型。这对于模拟(Mocking)技术尤为重要，因为在编写单元测试时经常需要用到mock对象代替真实的服务实例。良好的面向对象设计使得我们可以安全地用假数据源或其他轻量级版本替换掉实际资源，同时保持系统的正常运作。 #### 依赖倒置原则 (Dependency Inversion Principle) 最后一点是关于高层模块不应该依赖低层模块，两者都应该依赖于抽象。此原则鼓励采用依赖注入(Dependency Injection)，让应用程序的不同组成部分之间解耦合。这种做法有助于提高灵活性以及简化复杂场景下的调试工作，尤其是在涉及多个外部系统交互的情况下尤为明显。 除了上述五大基本原则外，《代码整洁之道》还提供了许多有关如何写出易于理解和维护的好代码的实际建议[^3]。遵循这些指导方针可以帮助开发者建立更加健壮可靠的测试体系，进而促进整个项目的发展进步。
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