如何测试OS并发性能

最新推荐文章于 2025-11-03 13:36:50 发布
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本文探讨了lmbench在单处理器环境的应用，并提出了对于多处理器并行性测试的需求。文章讨论了如何设计适用于多处理器环境的benchmark，以及此类benchmark的测试目标。

lmbench适用于uniprocessor

有没有测试multiprocessor并行性的benchmark呢？

如何设计这种benchmark？测试目标是什么？问题好多！

iteye_15968
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【OS测试】
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OS测试
半导体测试基础 - OS 测试
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开路与短路测试（OS，Open-Short Test，也称连续性或接触测试），用于。OS 测试能快速检测出 DUT 是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bond wire 缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等；也能检测出与测试配件有关的问题，如 ProbeCard 或器件的 Socket 接触有问题。。一般有两种测试方法，一种是用 PMU 灌入电流测电压；一种是用功能测试的方法提供 VREF，形成动态负载电流再测电压的。
芯片引脚的OS测试
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08-22 4763
OS测试也叫open 和short 测试，由下图引脚内部电路图可得，open测试的是pin是否通过保护二极管连接到内部电路的GND或者电源VDD。综上，如果测试pin没有与其他pin短路，且自身二极管没有短路，则测试电压值就在0.2V-1.5V之间。但如果测试pin和其他pin短路者自身二极管短路，则测试电压值为：测试值<0.2。若测试结果为short，则可能是pin的保护二极管短路，也可能是pin与其它pin短路，但具体是哪一个pin与它短路没有办法立即判断。（3）PIN与PIN的short测试。
芯片测试（一）O/S测试
qq_45305667的博客
06-15 8996
原理相同，但有些测试机的DPS(Device Power Supply)资源不支持加流测压的功能，可以视情况改用加压测压（小电流挡位，一般低于1mA）或加压测流（小电流挡位）的方式进行测试，同时需要注意电源Pin是否加了滤波电容，防止因电流过小电容未充满电，O/S即OpenShort的缩写，即开路、短路，一般放在芯片测试的第一道，是后续测试的基础，测试首先是要将测试环境与DUT(Device Under Test)建立起良好的电气连接。图1 DUTPin 灌/拉电流示意图。
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这篇文章主要介绍了异数 OS 在TCP协议栈性能测试中的第三个部分，特别是针对长连接的测试。文中提到，传统的C10K问题在异数 OS 中得到了不同的理解和解决，通过优化线程切换、协议栈设计以及IO性能，实现了更好的...
【HarmonyOS应用开发】深入解析鸿蒙线程机制：多线程编程、并发处理及实际应用案例分析HarmonyOS线
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接着，文章阐述了并发编程的两种主要模型——基于内存共享和基于消息通信的并发模型，并介绍了HarmonyOS采用的Actor并发模型。此外，文章详细讲解了Worker线程和TaskPool的作用及其使用方法，展示了它们在处理耗时...
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芯片测试（1）——OS测试
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2202_75467525的博客
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IDDQ测试运行一组静态IDD测试的功能序列，使其功能序列内部的独立断点，进行8-12次的独立电流测试；（3）VDDpin的边上通常会放置Bypass电容，而电容的大小也会影响IDD的测试，小可能击穿，大可以导致DELAY的时间不足，提前测量。IDD的定义有很多种像Drain to Drain电流，Drain对于GND的电流，以及leakage的电流。结构：OS的一种串行的静态DC测试；IDDQ的目的是为了测量逻辑状态验证的时候静止的电流，同时与与标准的静态电流相比较用于提升测试覆盖率。
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Javachichi的博客
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其中D1，D2即为保护二极管，我们OS测试便是利用这两个管子存在完成测量的。OS 测试，OS 测试指的是开短路测试（Open-short Test）测试目的：确认测试引脚和 ATE（自动测试设备）连接的完整性，同时检查是否发生短路情况。该测试可以快速判断被测设备（DUT）存在的物理缺陷，如引脚短路、键合线缺失、静电损坏、制造缺陷等，也能判断探针卡或插座是否出现连接错误。测试原理：利用 CMOS 结构中每个芯片引脚内部存在的用于反向保护的二极管。如果二极管损坏，则 OS 测试可以将其检测出来。
无需安装的性能测试工具：JMeter 4.0解压即用
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