
SIFT
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SIFT的一些细节问题(一)
SIFT已经流行得近乎泛滥,大概在3、4年前看到SIFT时,大部分还是应用在宽基线图像匹配方面,其他方面的文章还不多,当时大概只查到几篇在目标跟踪方面应用的文章,但是都很浅显,没有什么改进,并且都是一些影响力不高的会议文章。当时心里闪过了一些念头,能不能在其他方面做一些应用,甚至对特征本身做一些改进?但是由于当时没有花很多时间在这方面的研究上,这个想法也就被搁置了。但是如今回过头来一看,局势完全不同了,SIFT像阿凡达风靡中国一样席卷图像处理各个领域,即使有些地方用上去显得有些生硬。从另一个角度原创 2010-11-29 19:51:00 · 1757 阅读 · 0 评论 -
SIFT的一些细节问题(二)
接着上次的说,主要是计算特征点方向和生成SIFT特征向量的过程中的一些问题。直接切入正题吧。 1、计算特征点方向时的参数问题。计算特征点的方向时,将邻域内的梯度和方向进行统计,并以1.5倍sigma(sigma为该特征点的尺度值)进行圆形高斯加权,生成36个bin的梯度方向直方图,但是这个邻域是多大呢?在Lowe的原文中并没有明确说明,而在王永明的《图像局部不变性特征与描述》一书中说明邻域半径为3倍sigma。这个嘛,在没有进一步看到更多的说明之前,还是认为是3倍sigma吧原创 2010-11-30 11:51:00 · 1167 阅读 · 2 评论 -
SIFT的一些细节问题(三)
其实以下问题不一定要归结到SIFT的内容当中来,因为这是关于特征点匹配方面的,只是由于我是在看SIFT的时候接触到这些,并且也只是有一点粗浅的了解,将一些基础的总结性的知识储备在这里吧。不能算问题,只能是知识点。 1、特征匹配算法分类。通常特征匹配算法可以分为两类。一类是线性扫描法,即穷举法。第二类是建立数据索引,然后再进行快速匹配。索引树就是第二类中的一种,其基本思想是对搜索空间进行层次划分。根据划分的空间是否有混叠(Overlap)可以分为Clipping和Overlappin原创 2010-12-03 11:03:00 · 1100 阅读 · 0 评论 -
SIFT参考资料
虽然最近没有研究关于SIFT的内容,但是还是想把一些有关的参考资料放在这里。 [1] David G. Lowe. Object recognition from local scale-invariant features. ICCV1999. [2] David G. Lowe. Distinctive image features from scale-invariant keyp原创 2011-07-29 02:33:41 · 1028 阅读 · 0 评论