边界扫描与模拟测试总线标准详解
1. 边界扫描标准概述
边界扫描标准如今变得至关重要。对于许多新型印刷电路板(PCB),仅使用针床测试仪已无法完成测试;而对于多芯片模块(MCM),若没有边界扫描标准则根本无法进行测试。该标准支持使用自动测试设备(ATE)进行外部测试,同时可将边界扫描链重新配置为内置自测试(BIST)的模式发生器和响应压缩器,目前正得到广泛应用。
2. 边界扫描的相关规则与限制
- 扫描寄存器使用规则 :扫描寄存器不能既用于控制输出引脚,又直接作为输入连接到系统逻辑,这在标准中是不允许的。
- 数据非反转要求 :数据从输入引脚流入边界扫描寄存器、从输入引脚流入片上系统逻辑以及从边界扫描寄存器流入系统逻辑时,都不能反转。
- 单元延迟约束与测量 :时钟信号TCK下降沿与组件输出引脚变化之间的延迟可能存在偏差。由于边界扫描单元包含触发器,因此存在建立时间、保持时间以及从D到Q的传播延迟。可以通过特定方法测量引脚的建立时间、保持时间和传播延迟。同时,为节省功率并避免测试期间组件烧毁,应避免组件输出同时切换。此外,带有锁存并行输出的扫描寄存器单元在进入测试逻辑复位(Test - Logic - Reset)TAP控制器状态或该状态下的第一个TCK下降沿时,可复位为逻辑‘0’或‘1’。
3. 板级总线测试
在PCB/MCM中测试总线时,以一个有四个组件(引脚分别标记为A、B、C和D)的总线为例,A、B或C可驱动总线,D可读取总线。测试步骤如下:
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