晶振测试与使用中的主要问题(z)

本文深入探讨了晶振频率输出时有时无或发生跳变的原因,包括晶振供电系统、走线距离、假焊及生产工艺问题。同时,提供了在测试仪表精度时应考虑的因素,包括温度稳定度、电源特性、负载特性等关键指标的选择策略。

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晶振频率输出为什么时有时无或频率发生跳变?

有如下几种情况会导致此情况:

  • 晶振供电系统存在问题。
  • 晶振输出端与其他走线距离过近,存在短路的可能。
  •  晶振存在假焊的可能。
  • 晶体在生产过程中存在污染、电极银层不牢,导电胶开裂等工艺问题或水晶材料有问题。
  • 晶体DLD(激励)过大会导致晶体出现”休眠”(停振)的现象,当晶体的外界发生改变时,如温度改变、振动、重新通断电等,晶体又可以重新振荡。
  • SC-CUT晶体由于B模的振幅超过C模,所以在SC-CUT晶体的OCXO振荡回路必须增加B模抑制电路,如果抑制电路参数设置不合理,OCXO将输出B模的频率。B模的频率通常是C模的1.08倍,如10MHZ OCXO的输出频率变成10.8MHz时就是B模抑制参数不合理。

需要注意的是:如果B模抑制电路参数设计不合理,B模现象是随机发生的,晶振再次通电时,很有可能又恢复正常。

测试仪表的精度应该考虑哪些因素?

由于晶振是一个高稳定和低噪声的优质信号源,在测试晶振的稳定性指标如温度稳定度、电源特性、负载特性时,考虑日波动的因素,(我们)推荐选择温度稳定度指标比被测晶振高一个量级的晶振,或原子钟作为参考信号; 在测试准确度指标时,推荐选择准确度比被测晶振高一个量级的晶振,或原子钟作为参考信号。 在测试相噪指标时,参考源的相噪建议比被测晶振低-5dBc/Hz以上,且相噪测试仪表的底噪应该比被测晶振低-10dBc/Hz以上。 
一些测量仪表是内置高稳OCXO作为参考信号,建议在测量前先预热24小时以上。 
需要特别注意的是:对于OCXO产品,由于存在开机特性的因素,在测试OCXO的温度稳定性、电源特性、短稳等精密指标时,OCXO需通电24小时以上以免出现测试误差。

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