ATPG Practice& ATPG Practice II

最新推荐文章于 2025-01-02 21:37:33 发布

原创

最新推荐文章于 2025-01-02 21:37:33 发布 · 4.5k 阅读

47 ·

CC 4.0 BY-SA版权

文章标签：

#design for test

博客围绕ATPG展开，介绍了通用流程，包括scan chain tracing、clock rule checking、data rule checking等检查项；阐述了ATPG设置，如fault model、fault list等；讲解了delay test的single capture和double capture两种方法；还对覆盖率进行分析，提及故障分类、计算方法及提高覆盖率的途径，最后介绍了ATPG pattern validation。

本博文是博主记录DFT实训教程的笔记版本，此笔记并没有对所有的知识进行记录，仅仅以自身的认知水平，来记录了一些部分笔记并加上了自己的理解.

General ATPG Flow

在这里插入图片描述

ATPG DRC

scan chain tracing
第一步ATPG就是要去判断scan chain 的tracing，判断这个chain在shift过程中是否通畅。
如果发现不通，会报告S级别的violation。
只有chain能够正常工作了，后续的工作才有意义。这里的scanchain tracing主要是指的是shift里面能否正常的work。
Clock rule checking
1、capture clock
2、clock to D
在scan chain 通顺了之后，ATPG就需要去考量converage能否达标。
除了shift阶段需要打通以外，要注意capture阶段也需要正确的抓到值。所以，这里的clock rule check指的是capture阶段，cell能不能正确的值锁存下来。另外check clock对converage的影响，其中具有代表性的是clock to D的Design rule。比如C1，C2等
Data rule checking
另外还有Data的check，当shift完成了之后，相当于PPI此时已经赋值好了，接下来再capture的过程，这个时候，我们有一个scan enable拉低，稍后拉高的一段过程，在这样的过程的切换里面，有可能破环掉scan chain里面存储的值。data rule check指的是在shiftin完成之后，以及shiftout开始之前，这些cell能不能保持值，是否可能会被破坏掉，比如D1 D2等violation。