诚邀天下工程师一起验证:一个有效验证IEC 62368-1标准5.5.2.2条款存在致命隐患的简单有效方法

不需要昂贵的实验室、复杂的数学推导或高深的头衔。它只是一个直接的物理演示，就像伽利略在比萨斜塔上扔下的两个铁球，其力量正源于任何人都能重复和见证的朴素事实.

注意：本验证方案旨在邀请全球电气和电子工程师亲自验证，一项看似简单的安全标准，由于忽略了交流电应用中的动态变化，实际上隐藏着极其致命的缺陷，一直在持续导致全球电子垃圾灾难。

典型元件参数选择：选择一个 0.47µF X 电容、一个 2MΩ (0.25W) 电阻和一个 200KΩ (0.5W) 电阻进行验证。

1) 首先，将 0.47µF X 电容和 2MΩ (0.25W) 电阻并联。使用带插头的电源线将这两个元件并联焊接好后，将数字万用表（或示波器）的探针分别连接到 X 电容的两个引脚上。反复插拔插头以产生电火花，观察并记录万用表（或示波器）的有效读数。

2) 将 0.47µF X 电容与 200KΩ (0.5W) 电阻并联，重复上述实验。结果必然与我 30 年前的实验相同：大电阻测得的峰值电压必然非常高。这直接证明了 IEC 62368-1 标准的 5.5.2.2 条款是持续存在隐蔽高压尖峰的根本原因，这些尖峰会不断加速设备老化。所有符合 IEC 62368-1 标准 5.5.2.2 条款的机器……无一例外！电子垃圾泛滥的原因显而易见。

一个常见的例子：许多使用开关电源的设备在开机和关机过程中很容易受到尖峰电压干扰而损坏。这是因为，在极端情况下，高阻值组合会产生超过 10KV 的尖峰电压，远远超过设备元件的容差极限。

更令人担忧的是，IEC 62368-1 标准 5.5.2.2 条款允许使用大量容量小于 0.1 微法的 X 电容的电源不使用放电电阻。正是这些低功率充电器和适配器导致电源快速老化和失效，直接导致手机和电脑的快速损坏，成为电子垃圾的主要来源之一。

（开关瞬态扩展）

在反激式电源中，漏感瞬态会叠加在残余电压上。假设峰值电流 I_peak = 1 A，时间 Δt = 10 ns：

峰值电压 V_spike = L di/dt = 100 μH × (1 A / 10 ns) = 10,000 V）

(额外友情提示:如果不嫌麻烦,可以将家里某些电器的电源部分这个放电电阻调整为200K,绝对有惊喜,但仅限于较新电器)

原提案人：Simon Meng

单位：独立 EMC 设计顾问，中国深圳

日期：2025 年 11 月 9 日