STM32高精度ADC测试程序

在本篇文章中，我们将介绍如何使用STM32微控制器进行高精度ADC测试。我们将提供相应的源代码，帮助您理解和实现这个功能。

ADC（模数转换器）是一种常见的外设，用于将模拟信号转换为数字信号。STM32系列微控制器内置了多个个ADC通道，可以实现高精度的模拟信号采集。在这个示例中，我们将使用STM32的ADC功能来获取高精度的模拟输入值。

首先，我们需要配置STM32的ADC外设。以下是初始化ADC的代码段：

#include "stm32f4xx.h"

void ADC_Init(void)
{
    // 使能ADC时钟
    RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_ADC1, ENABLE);

    ADC_InitTypeDef ADC_InitStruct;
    ADC_StructInit(&ADC_InitStruct);

    // 设置ADC工作模式为独立模式
    ADC_InitStruct.ADC_Mode = ADC_Mode_Independent;

    // 设置ADC的采样分辨率为12位
    ADC_InitStruct.ADC_Resolution = ADC_Resolution_12b;

    // 使能ADC的扫描模式
    ADC_InitStruct.ADC_ScanConvMode = DISABLE;

    // 禁用ADC的连续转换模式
    ADC_InitStruct.ADC_ContinuousConv