基于MATLAB的计算机视觉芯片缺陷检测

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本文介绍了使用MATLAB进行计算机视觉处理,应用于芯片缺陷检测的方法。内容包括图像预处理、特征提取、缺陷检测和定位,通过这些步骤实现自动化检测,提升芯片制造业的质量控制效率。

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基于MATLAB的计算机视觉芯片缺陷检测

计算机视觉在工业生产中扮演着重要的角色,特别是在产品质量控制方面。芯片制造是一个关键的行业,对芯片的质量要求非常高。因此,开发一种高效准确的缺陷检测方法对于芯片制造商来说至关重要。本文将介绍基于MATLAB的计算机视觉方法,用于芯片缺陷检测。

  1. 图像预处理
    在进行缺陷检测之前,首先需要对输入图像进行预处理。预处理的目的是增强图像的对比度,减少噪声并突出缺陷区域。常用的预处理步骤包括灰度化、滤波和图像增强。

    % 图像灰度化
    grayImage = rgb2gray(originalImage);
    
    % 中值滤波
    filteredImage = medfilt2(
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