该实验旨在测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门的逻辑功能，通过输入逻辑电平并观察输出来验证其工作原理。实验过程中会了解测试方法和测试原理。
一、实验目的和任务
- 测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
- 了解测试的方法与测试的原理。
二、实验原理介绍
实验中用到的基本门电路的符号为：
在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。
三、实验数据、计算及分析
数字电路实验 01 - | TTL门电路的逻辑功能测试
最新推荐文章于 2025-03-05 23:52:17 发布
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