一、验证的目的
为了证明 IC 设计的全部功能是否符合应用文档 Spec 和设计文档 DesignSpec 所描述的功能(基本功能、基本场景、定向测试、定向激励);
为了证明 IC 设计的全部过程是否匹配算法层面 Algorithm 和软件层面 Software 所实现的过程(基本功能、基本场景、定向测试、定向激励);
为了证明 IC 设计的全部场景是否存在“状态机卡死”、“逻辑死循环”、“时序有毛刺”、“资源可优化”等方面的问题(特殊场景、随机/边界/遍历测试、随机/边界/遍历激励、覆盖率驱动)。
二、验证的目标
定向且随机减小设计的缺陷和盲点;
按时且保质保证设计的时间和质量;
完备且收敛实现设计的交付和产出。