USB复位问题

以下电阻是GW3323芯片内部电阻。

一、现象描述：个别电脑在缺纸3分钟后出现USB重新复位。（不应答主机，过3分钟后出现重新枚举过程）数据如下：

URB：USB请求块。
USBD:USB状态代码。

D-（DM）被拉到0.5V。

PC发给GW3323:1b40…(GW3323收到了，所以回复的是ack)
但GW3323实行USB流控，未调用ude_rx_ack()
所以PC再给芯片发数据：0000…（芯片回复nack）
等芯片合盖后，调用ude_rx_ack()，PC再给芯片发数据：0000…（芯片回复ack）

二、分析与结论
猜想一：芯片休眠造成的复位
关闭USB低功耗唤醒，cfg_bt_sniff_mode_dis =true;—未打开低功耗，也会reset。

猜想二：USB的阻抗匹配,用22Ω电阻。

猜想三：添加PortSatus回复----依旧会reset。
ITF：xxxx REQ:xxxx

**猜想四：**多读几次usbchk_connect()函数能解决，极海USB代码内部逻辑上分析

此现象的原因分析如下:
枚举成功后，usbchk_connect()读DM电平，为低（低于1.27V），返回connnect（2）;为高(高于2.03V)，返回disconnect（0），如果碰巧DM每次统计都是高电平那就会误检。
dev_offline_filter内只对软件状态防抖（40次轮询*5ms=200ms），如果usbchk_connect真的出现一次误检，但即可又恢复connect，那这次误检测会被dev_offline_filter过滤掉。pc_remove只是清理状态变量，但usb_device_exit会重新初始化包括io在内的usb配置。

在160MHz情况下，芯片每20ms读取一下msg状态。
func_usbdev_exit();//在160MHz主频下需要131us
pc_remove();//在160MHz主频下需要600ns
并不符合异常波形中350ms的低电平，且芯片无法把D+\D-都拉到低电平。

四、改善方法
方法1：检测VUSB电平+DM电平。插上时VUSB为高，DM为低；拔下时，VUSB为低，DM为高。（不适用于硬件上Vbus不接VUSB的电路）//(RTCCON&0x100000)为非0，表示Vbus已接上5V。
方法2：连续采DM电平（PB4），间隔时间为3us。（降低整个代码执行效率）
方法3：每5.11ms检测1s,依旧滤波40次。（影响5ms内其他函数的标记，或要新添一个线程）

原usr_tmr5ms_thread整个线程不足2us，要是把时间延长，会影响代码的执行效率。

五、理论基础知识

SOF包(Start Of Frame，全速USB每1ms发送一个，高速USB则是125µs发送一个

拔出检测流程图标志说明：
（1）在USB处于从机状态时，3ms内未收到SOF包，触发SUSPEND事件，会开启一个定时器，如果在2S内未收到SOF包，则判断为USB拔出，挂起OTG，发送device out 事件，此处理主要是解决一些HUB的兼容性问题。设备接HUB，HUB插入PC，在HUB拔出时，DM仍为低电平，检测不到USB拔出；
（2）在USB处于从机状态时，会有一个定时器，50ms执行一次，DM的电平和SOF包的读取，都是这个定时器，如果连续三次读取到DM为高电平，并且没有收到SOF包，则判断为USB拔出。此参数TCFG_OTG_SLAVE_OFFLINE_CNT配置读取次数；
（3）只要主机设备检测到DM,DP的电平异常，认为有断连，就会发送reset信号到从机；


六、Bus Hound抓包软件的设置

注意子HID设备不勾选，否则采出来的数据与芯片usb收发函数看到的不一致。