基础练习芯片测试

最新推荐文章于 2024-10-10 11:37:17 发布

ChanCherry、

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分类专栏：蓝桥杯

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本文介绍了一种基于离散数学中的抽屉原理来判断芯片好坏的算法。通过统计每个芯片被其他芯片判断为好的次数，若某芯片被超过一半数量的芯片判断为好，则该芯片即为好芯片。文章提供了详细的算法实现代码。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

思路：
刚看到这道题是没有思路的，想着假设1号芯片是好的再一一比对，有点麻烦。后来在网上搜，发现简便方法，利用离散中的抽屉原理（还没学过）。

抽屉原理：如果把n+1个物体放入n个抽屉里，则必有一个抽屉里至少放了两个物体。

在这道题中的应用就是假如有n/2个芯片说某一个芯片是好的的话，那该芯片就是好的。

#include <stdio.h>
#include <string.h> 
int main(){
	int n,i,j;
	scanf("%d",&n);
	int a[22][22],count[22];
	memset(count,0,sizeof(count));//初始化 
	for(i=1;i<=n;i++)
		for(j=1;j<=n;j++)
			scanf("%d",&a[i][j]);

	for(i=1;i<=n;i++){
		for(j=1;j<=n;j++){
			if(i!=j && a[i][j]==1)
				count[j]++;
		}
	}
	for(j=1;j<=n;j++)
		if(count[j]>=n/2)
			printf("%d ",j);
	return 0;
}