使用硬件循环冗余校验（CRC）检验数据的嵌入式应用

循环冗余校验（CRC）是一种常用的错误检测技术，广泛应用于通信和数据存储领域。在嵌入式系统中，使用硬件实现CRC可以提高校验速度和效率。本文将介绍如何在嵌入式系统中使用硬件CRC来校验数据，并提供相应的源代码示例。

CRC是一种基于多项式计算的校验方法，可以检测数据传输过程中的错误。它通过对数据进行除法运算，生成一个固定长度的校验码，将其附加到原始数据中。接收方在接收数据时，使用相同的多项式进行计算，并将结果与接收到的校验码进行比较，以确定数据是否出现错误。

在嵌入式系统中，通常使用硬件模块来实现CRC计算，这样可以大大提高校验的速度和效率。下面是一个使用硬件CRC校验数据的示例代码：

#include <stdint.h>
#include <stdbool.h>