国产升级，高端打造丨优可测薄膜厚度测量仪新品上市

优可测隆重推出薄膜厚度测量仪AF-3000系列新品，助力国产制造和科研升级。

小优博士带大家来一睹新品风采！

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【测量原理】

不同波长的光波穿透被测膜层

上下表面反射光相互之间的相位差增强或减弱

通过解析干涉图形计算被测膜层厚度

【应用场景】

广泛应用在半导体、精密光学、液晶、新能源/光伏、医疗、刀具、制成薄膜、高分子材料等行业。例如ITO膜、钙钛矿 、量子点、SiO2、光刻胶等。

优可测AF-3000系列提供高精度、高速度、多场景、多层厚度测量方案。

四大亮点  远超传统膜厚仪

01

超高精度 分辨率1Å

采用独特的“分波段拟合算法”

偏差精准校正，实现超高分辨率

02

多层测量

最高可测10层

03

适用多场景

04

毫秒级别采样频率

比传统膜厚仪提升2-3倍

更合适在线使用

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