晶振是否起真测量

       最近遇到了晶振是否起振这个问题了。在我们的一款产品上，可能，可能，可能是因为晶振不起振导致系统彻底卡死成板砖了。于是关于晶振的各种折腾就开始了。

      晶振不起振，是否可测呢？于是我直接用示波器来测试晶振是否起振了，是否有波形，结果是失败了，啥都没有。于是在网上寻求答案，有说的一个方法是用示波器衰减档来测试，于是我就试试，果然可以，看来网上高人多呀。可是后面又想到我们示波器探头自身带电容，这个会不会对晶振的震动频率有影响呢？事实就是这样的，不同起振电容都会导致不同的震荡频率。所以用示波器直接测量晶振的震荡频率不太靠谱，这样容易形成误测。所以就换一种方式了，使用MCU的MCO功能，将晶振的频率通过IO口输出，这样就可以准确的测试晶振的频率，就是软件改一改嘛！

    目前测试发现，晶振的震荡频率与匹配电容的关系是，频率越高，那么匹配电容肯定是大了，需要往小里调。频率偏低了，那么匹配电容肯定是小了，需要往大里调。