手动模拟获取latch

本文通过SQL命令演示了如何使用oradebug工具手动模拟获取Oracle中的latch,包括dump latches、peek和poke操作,详细解释了不同状态的变化,如latch从free状态变为busy状态的过程。

摘要生成于 C知道 ,由 DeepSeek-R1 满血版支持, 前往体验 >

手动模拟获取latch

随意dump一个latches结构文件:
SQL> oradebug dump latches 10
ORA-00074: no process has been specified
SQL> oradebug setmypid
Statement processed.
SQL> oradebug dump latches 10
Statement processed.
SQL> oradebug tracefile_name
/oracle/diag/rdbms/orcl/orcl/trace/orcl_ora_5564.trc

找到文件并随便找一个latch地址查看:
我们这里找的是地址为0x60019d98的一个active checkpoint queue,当前状态为free:
60019d98  active checkpoint queue latch level=5
        Location from where latch is held: kcbk.h LINE:2222 ID:kcbbacq: scan active checkpoints:
        Context saved from call: 0
        state=free [value=0] wlstate=free [value=0]
    gotten 2345 times wait, failed first 0 sleeps 0
    gotten 0 times nowait, failed: 0

通过oradebug验证:
SQL> oradebug peek 0x60019d98 8
[060019D98, 060019DA0) = 00000000 00000000   
该latch的当前值为0,确为free状态,我将它值修改为1:
SQL> oradebug poke 0x60019d98 2 1
BEFORE: [060019D98, 060019D9C) = 00000000
AFTER:  [060019D98, 060019D9C) = 00000001
再次dump一个latches结构文件,并找到上述latch的信息:
60019d98  active checkpoint queue latch level=5
        Location from where latch is held: kcbk.h LINE:2222 ID:kcbbacq: scan active checkpoints:
        Context saved from call: 0
        state=busy [holder orapid=1] wlstate=free [value=0]
    waiters [orapid (seconds since: put on list, posted, alive check)]:
     10 (30, 1402142587, 30)
     waiter count=1
    gotten 2607 times wait, failed first 0 sleeps 0
    gotten 0 times nowait, failed: 0
此时状态为busy。
#include <hidef.h> #include "derivative.h" // ---------------------- // 数码管驱动定义 // ---------------------- #define LEDData PTAD #define LEDData_D PTADD #define LEDCs PTBD #define LEDCs_D PTBDD const unsigned char LED_Table[17] = {0x3F,0x06,0x5B,0x4F,0x66,0x6D,0x7D,0x07,0x7F,0x6F,0x80,0x77,0x7C,0x39,0x5E,0x79,0x71}; unsigned char Display_Buf[4] = {0, 0, 0, 0}; unsigned char Current_Pos = 0; // ---------------------- // ADC 模块定义(PTB7) // ---------------------- #define ADC_CHANNEL PTB7 #define ADCH_CHANNEL 7 // PTB7 对应 ADC 通道7 //#define APCTL1 (*(volatile unsigned char *)0x002C) // 端口控制寄存器1 //#define ADC1CFG (*(volatile unsigned char *)0x0170) // ADC 配置寄存器 //#define ADC1SC2 (*(volatile unsigned char *)0x0172) // ADC 状态控制寄存器2 //#define ADC1SC1 (*(volatile unsigned char *)0x0171) // ADC 状态控制寄存器1 #define ADSR (*(volatile unsigned char *)0x0034) // ADC 状态寄存器(AW60地址可能为0x0034) #define COCO 7 // 转换完成标志位 // ---------------------- // 函数声明 // ---------------------- void delay(int count); void LED_ScanDisplay(); unsigned int Get_ADC_Value(); void main(void) { EnableInterrupts; PTADD = 0xFF; // A口输出 PTBDD = 0xFF; // B口输出 // 初始化 ADC 为 PTB7 输入 APCTL1 &= ~(1 << 7); // PTB7 设为模拟输入(清除第7位) ADC1CFG = 0x70; // 10位模式,长采样时间,总线时钟/16(0x70=0b01110000) ADC1SC2 = 0x00; // 软件触发,禁止比较功能 ADC1SC1 = ADCH_CHANNEL; // 选择通道7 while (1) { __RESET_WATCHDOG(); unsigned int adc_value = Get_ADC_Value(); // 获取 ADC 值(0-1023) float voltage = (adc_value * 5.0) / 1024.0; // 转换为电压 // 拆分显示数据 unsigned char d1 = (unsigned char)voltage; unsigned char d2 = (unsigned char)((voltage * 10) % 10); unsigned char d3 = (unsigned char)((voltage * 100) % 10); Display_Buf[0] = d1; Display_Buf[1] = d2 + 10; // 小数点 Display_Buf[2] = d3; Display_Buf[3] = 0; LED_ScanDisplay(); } } // ---------------------- // 数码管扫描函数(不变) // ---------------------- void LED_ScanDisplay() { LEDData = 0x00; LEDCs = 0xFF; switch (Current_Pos) { case 0: LEDCs = 0xFE; break; case 1: LEDCs = 0xFD; break; case 2: LEDCs = 0xFB; break; case 3: LEDCs = 0xF7; break; } LEDData = LED_Table[Display_Buf[Current_Pos]]; Current_Pos = (Current_Pos + 1) % 4; delay(2); } // ---------------------- // ADC 数据获取函数(修正) // ---------------------- unsigned int Get_ADC_Value() { ADC1SC1 = ADCH_CHANNEL; // 触发转换 while (!(ADSR & (1 << COCO))); // 等待完成 // AW60 ADC 结果存储在 ADC1R(16位),高10位有效(右对齐) return (ADC1R >> 6) & 0x03FF; // 提取10位数据(0-1023) } // ---------------------- // 延时函数(不变) // ---------------------- void delay(int count) { int i, j; for (; i < count; i++) for (j = 0; j < 1000; j++); } 修改代码出现的问题
最新发布
05-25
### 数码管驱动和ADC模块代码中的潜在问题分析 #### 数码管驱动部分 数码管驱动通常涉及硬件接口配置、数据传输以及刷新机制。根据引用内容[^2],以下是可能存在的问题及其解决方案: 1. **未考虑复位电路的影响** - 如果复位电路设计不当,可能导致单片机启动时未能正确初始化数码管的状态。 - 解决方案是在程序中加入软件复位逻辑,在系统上电或手动触发复位后重新初始化数码管。 2. **缺乏动态扫描机制** - 若数码管采用静态显示方式,则可能会消耗较多的I/O资源,并降低刷新效率。 - 推荐使用动态扫描技术来减少GPIO占用量并提高响应速度。例如: ```c void display_digit(uint8_t digit[], uint8_t length) { static uint8_t index = 0; digitalWrite(ENABLE_PIN, LOW); // 关闭当前段选 digitalWrite(SEGMENT_PINS[index], HIGH); delayMicroseconds(1000); // 刷新时间间隔 index = (index + 1) % length; // 循环更新索引 } ``` 3. **未处理多位数码管同步问题** - 当多个数码管串联工作时,如果各单元之间存在相位差或者延迟现象,会造成视觉上的闪烁效果。 - 可以引入锁存器(Latch Register),确保每次只有一位被激活的同时其他保持不变。 #### ADC模块部分 对于模数转换功能而言,主要关注采样精度及时钟稳定性等方面。基于引用说明[^1][^3],这里列举几个常见隐患及改进建议如下所示: 1. **参考电压设置不合理** - 错误设定Vref值会直接影响最终测量结果的有效范围。 - 应当仔细查阅所使用的MCU手册,确认其支持的最大最小输入限幅,并据此合理规划外部供电线路参数。 2. **缺少必要的滤波措施** - 噪声干扰容易引起AD采集不稳定甚至完全失效的情况发生。 - 添加低通RC网络至传感器端口附近位置处能够有效抑制高频成分进入后续级联环节之中。 3. **忽视了通道切换过程中的等待期** - 不同信道间可能存在一定的建立时间和恢复周期需求,忽略这一点往往会导致相邻两次读数之间的关联误差增大。 - 修改后的伪代码片段展示如何妥善安排这些细节: ```c void read_adc_channel(int channel){ select_adc_channel(channel); delay_us(settling_time[channel]); /* 额外延时 */ adc_value = get_conversion_result(); } ``` 综上所述,针对上述两个子系统的具体实现情况分别提出了针对性强的技术改进方向,希望对你有所帮助!
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