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原创 应对半导体先进过程控制(APC)的三大挑战:从理论到实践
随着半导体制造工艺迈向更先进的节点,先进过程控制(APC)已成为保障良率、提升产能和降低成本的核心技术。然而,在实际应用中,APC系统依然面临着量测采样率低、参数调整延迟以及高产品混合生产等严峻挑战。本文旨在深入分析这三大挑战的根源,并提出以和为核心的可行性解决方案,结合行业案例,为半导体制造领域的从业者提供参考与借鉴。
2025-09-12 11:27:12
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原创 数据驱动的闭环反馈优化是APC的基石
APC的本质目标是通过实时数据采集、智能分析和动态调整,实现制造过程的精确控制和良率最大化。在这个过程中,数据是燃料,算法是引擎,业务规则和流程是方向盘和导航仪,三者缺一不可,共同驱动“下货->量测->优化->下货”的循环。这是APC提升良率的核心环节,其效能高度依赖数据的质量、时效性和应用维度。一、 流程控制:构建稳健的初始操作框架(先验规则驱动)二、 计算优化:数据驱动的动态参数调优(反馈学习驱动)四、 数据挖掘视角的共鸣:数据流的闭环与价值提炼。三、 三位一体:业务、数据、算法的深度融合。
2025-07-31 18:59:13
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postgresql数据库批量建表
2023-10-12
空空如也
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