IO流概述、字节流:FileOutputStream和FileInputStream的使用

本文详细介绍了Java中的IO流,包括字节流和字符流的分类,重点讨论了FileOutputStream和FileInputStream的使用。内容涵盖了字节流的write()方法、换行与追加写入、异常处理、文件复制以及BufferedOutputStream的缓冲技术。通过多个案例演示了字节流在读写文件中的应用,特别是针对文本文件和MP3文件的复制。

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IO流概述及其分类

A:IO流概述
IO流用来处理设备之间的数据传输
Java对数据的操作是通过流的方式
Java用于操作流的对象都在IO包中
B:IO流分类
a:按照数据流向
输入流 读入数据
输出流 写出数据
b:按照数据类型
字节流 可以读写任何类型的文件 比如音频 视频 文本文件
字符流 只能读写文本文件
什么情况下使用哪种流呢?
如果数据所在的文件通过windows自带的记事本打开并能读懂里面的内容,就用字符流。其他用字节流。
如果你什么都不知道,就用字节流

IO流基类概述和FileOutputStream的构造方法

A:IO流基类概述
a:字节流的抽象基类:
InputStream ,OutputStream。
b:字符流的抽象基类:
Reader , Writer。
注:由这四个类派生出来的子类名称都是以其父类名作为子类名的后缀。
如:InputStream的子类FileInputStream。
如:Reader的子类FileReader。
B:FileOutputStream的构造方法
由一个案例引出使用IO流写数据,由于字节流先出现就先学习字节输出流基类OutputStream,
使用具体子类FileOutputStream
Io流的分类:
- (1): 按照流向进行划分
输入流
输出流

  • (2): 按照操作的数据类型进行划分
  • 字节流
  • 字节输入流 InputStream 读
  • 字节输出流 OutputStream 写
  • 字符流
  • 字符输入流 Reader 读
  • 字符输出流 Writer 写
  • 需求: 往一个文本文件中写一串数据 Hello,IO
  • 分析:
  • a: 我们现在操作的是文本文件,所有按照我们的想法,我们优先现在字符流,但是字节流是优先于字符流. 所以先使用字节流
  • b: 因为我们要写数据,所以我们应该使用字节流中输出流 OutputStream
  • 我们发现OutputStream是一个抽象类,我们不能对其进行直接实例化,而我们需要使用子类对其进行实例化.那么选择哪个子类呢?
  • 我们现在操作的是文件所以我们选择的是FileOutputStream

案例一:

import java.io.File;
import java.io.FileNotFoundException;
import java.io.FileOutputStream;
import java.io.IOException;

public class MyTest {
    public static void main(String[] args) throws IOException {
        //IO:用来进行设备之间的一个数据传输
        //按照读写文件的类型分为 字节流和字符流
        //字节流可以读写任意类型的文件(音频,视频,文本,等等)
        //字符流只能读写文本文件
        //字节流的命名规律是,末尾会叫Stream
        //文件输入输出流
        //文件输出流 FileOutPutStream
        //文件输出流是用于将数据写入 File

        //FileOutputStream(File file)
        //创建一个向指定 File 对象表示的文件中写入数据的文件输出流。
        //
        //FileOutputStream(String name)
        //创建一个向具有指定名称的文件中写入数据的输出文件流。
        File file = new File("a.txt");
        // file.createNewFile();
        //输出流所关联的文件,如果不存在,会帮你自动创建
        FileOutputStream out = new FileOutputStream(file);

        System.out.println("--------------------------------");

        FileOutputStream out2 = new FileOutputStream("b.txt");//传入一个具体的文件路径字符串

    }
}

FileOutputStream写出数据

A: 构造方法
FileOutputStream(File file)
FileOutputStream(String name)
B:案例演示
FileOutputStream写出数据

注意事项:
	创建字节输出流对象了做了几件事情?
	a:调用系统资源创建a.txt文件
  	b:创建了一个fos对象
  	c:把fos对象指向这个文件
	为什么一定要close()?

	a: 通知系统释放关于管理a.txt文件的资源
	b: 让Io流对象变成垃圾,等待垃圾回收器对其回收

案例一:

import java.io.FileNotFoundException;
import java.io.FileOutputStream;
import java.io.IOException;

public class MyTest2 {
    public static void main(String[] args) throws IOException {
        FileOutputStream out = new FileOutputStream("a.txt");
        //向文件中写入数据
        out.write(97); //一次写入一个字节,超过一个字节会丢弃掉多余字节
        out.write(98);
        out.write(99);
        System.out.println("------------------");
        out.write(new byte[]{100, 101, 102});
        String str = "今天天气有点闷热";
        byte[] bytes = str.getBytes();
        out.write(bytes);
        String str2 
<think>好的,用户想了解半导体制造中的术语DFIBFI的定义解释。首先,我需要回忆一下这两个缩写的全称。DFI通常代表Dark Field Inspection,即暗场检测,而BFI可能是Bright Field Inspection,亮场检测。这些都是晶圆检测中常用的技术。 接下来,我需要确认这些术语的正确性。比如,DFI确实是暗场检测,用于检测表面微小的缺陷,如划痕或颗粒,因为它利用散射光,能够突出表面规则的区域。而BFI作为亮场检测,使用透射光,适合观察晶圆内部的缺陷,比如晶体结构的问题或内部裂纹。 然后,需要解释它们的原理应用场景。暗场检测的原理是使用斜射光,只有被缺陷散射的光才会被检测器捕获,所以背景暗,缺陷亮。而亮场检测则是直接透射光,结构缺陷会阻挡光线,形成暗区。这些方法在半导体制造的同阶段应用,DFI可能在抛光后检测表面,BFI在刻蚀或沉积后检查内部结构。 还要注意引用的问题,用户提供的参考中提到TEM,虽然直接相关,但可能涉及其他检测技术,需要正确引用。但用户的问题是关于DFIBFI,所以可能需要查找相关文献或资料确保准确性。最后,生成相关问题时要围绕检测技术、比较、应用场景与TEM的区别等方面,帮助用户深入理解。</think>### 晶圆缺陷检测术语DFI与BFI定义解释 #### 1. DFI(Dark Field Inspection,暗场检测) **定义**:通过特定角度入射光与散射光检测晶圆表面微小缺陷的技术。暗场条件下,只有被缺陷散射的光线会被成像系统捕获,背景呈暗色,缺陷呈现高亮信号[^1]。 **原理**:$$ I_{\text{detected}} = \int_{\theta_{\min}}^{\theta_{\max}} \Phi_{\text{scattered}}(x,y,\theta) d\theta $$ 式中,$\Phi_{\text{scattered}}$表示缺陷散射光强度分布。 **应用**:检测表面划痕、颗粒污染、浅层晶体缺陷等,灵敏度可达纳米级。 #### 2. BFI(Bright Field Inspection,亮场检测) **定义**:利用透射光或反射光直接成像的技术,通过光强衰减检测晶格畸变、内部空洞等深层缺陷[^1]。 **原理**:$$ \Delta I/I_0 = e^{-\mu t} \cdot (1 - \alpha_{\text{defect}}) $$ 其中$\mu$为材料吸收系数,$t$为厚度,$\alpha_{\text{defect}}$为缺陷引起的光强衰减因子。 **应用**:检测刻蚀残留、薄膜厚度均、晶体管栅极变形等结构异常。 #### 技术对比 | 参数 | DFI | BFI | |------------|--------------------|--------------------| | 检测深度 | 表面至亚表面(≤1μm) | 全层穿透(1-100μm) | | 灵敏度 | 1-10nm缺陷 | 10-100nm缺陷 | | 成像速度 | 快(局部扫描) | 慢(全局成像) | | 典型设备 | 激光散射仪 | 光学显微镜 |
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