芯片功能测试故障分析

博客围绕A类故障展开,该故障在demo板上表现为i2c offline且无应答,机台正常。经排查,发现是demo板晶震输入无信号致芯片不工作,原因是demo板晶震驱动弱,晶震信号被过滤。最后提出在测试项增加输入电阻检测或在PB增加晶震的解决思路。

摘要生成于 C知道 ,由 DeepSeek-R1 满血版支持, 前往体验 >

A类故障表现为demo板上是i2c offline,而在测试机台上表现一切正常。用示波器观测demo板表现卫i2c没有应答。初步判断为demo板与机台环节不一致。

通过比对demo板与机台的环境。对换了i2c线,电源,一直没有进展。

前期我们的工作是判断为什么i2c没有应答位。后来通过检测发现是在demo板上晶震输入没有信号,导致芯片不工作。测量晶震输入对地电阻发现A类芯片明显异常。

由于demo板上的晶震驱动较弱,导致A类芯片上的晶震信号被过滤掉。机台的驱动很强,故没有问题。

考虑在测试项上增加输入电阻检测,或者在PB上增加晶震。

评论
添加红包

请填写红包祝福语或标题

红包个数最小为10个

红包金额最低5元

当前余额3.43前往充值 >
需支付:10.00
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明:

1.余额是钱包充值的虚拟货币,按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载,可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值