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问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1样例输出
1 3
思路:
由题目 “已知好芯片比坏芯片多。”可以推得:好的芯片 在被别的加上自己评判时 :里面0的个数会小于1的个数 。相对的 坏的芯片 在被别的加上自己评判时 :里面1的个数会小于0的个数 。
#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
int main()
{
int n;
int i,j;
int a[21][21];
scanf("%d",&n);
for(i=1;i<=n;i++)
for(j=1;j<=n;j++)
{
scanf("%d",&a[i][j]);
}//输入数据
int f=0;
for(j=1;j<=n;j++)
{
int sum1=0,sum0=0;
for(i=1;i<=n;i++)
{
if(a[i][j]==1)
sum1++;
else
sum0++;
}
if(sum1>sum0)
{
if(f==0)
{
printf("%d",j);
f=1;
}
else
printf(" %d",j);
}
}
return 0;
}
本文介绍了一种通过相互测试来区分好芯片与坏芯片的方法。基于输入的测试矩阵,该算法统计了每个芯片被测试为好或坏的次数,进而判断其好坏。适用于芯片数量不多于20个的情况。

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