VIP试题基础练习芯片测试（找规律，统计）

最新推荐文章于 2022-02-08 21:27:59 发布

原创最新推荐文章于 2022-02-08 21:27:59 发布 · 119 阅读

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#数学

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本文介绍了一种通过相互测试来区分好芯片与坏芯片的方法。基于输入的测试矩阵，该算法统计了每个芯片被测试为好或坏的次数，进而判断其好坏。适用于芯片数量不多于20个的情况。

资源限制

时间限制：1.0s 内存限制：512.0MB

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

思路：

由题目 “已知好芯片比坏芯片多。”可以推得：好的芯片在被别的加上自己评判时：里面0的个数会小于1的个数。相对的坏的芯片在被别的加上自己评判时：里面1的个数会小于0的个数。

#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
int main()
{
	int n;
	int i,j;
	int a[21][21];
	scanf("%d",&n);
	for(i=1;i<=n;i++)
	for(j=1;j<=n;j++)
	{
		scanf("%d",&a[i][j]);
	}//输入数据 
	int f=0;
	for(j=1;j<=n;j++)
	{
		int sum1=0,sum0=0;
		for(i=1;i<=n;i++)
		{
			if(a[i][j]==1)
			sum1++;
			else
			sum0++;
		}
		if(sum1>sum0)
		{
			if(f==0)
			{
				printf("%d",j);
				f=1;
			}
			else
			printf(" %d",j);
		}
	}
	return 0;
}