VIP试题 基础练习 芯片测试(找规律 ,统计)

本文介绍了一种通过相互测试来区分好芯片与坏芯片的方法。基于输入的测试矩阵,该算法统计了每个芯片被测试为好或坏的次数,进而判断其好坏。适用于芯片数量不多于20个的情况。

资源限制

时间限制:1.0s   内存限制:512.0MB

问题描述

  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入格式

  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。

输出格式

  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

 思路:

由题目     “已知好芯片比坏芯片多。”可以推得:好的芯片 在被别的加上自己评判时 :里面0的个数会小于1的个数 。相对的 坏的芯片 在被别的加上自己评判时 :里面1的个数会小于0的个数 。

 

#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
int main()
{
	int n;
	int i,j;
	int a[21][21];
	scanf("%d",&n);
	for(i=1;i<=n;i++)
	for(j=1;j<=n;j++)
	{
		scanf("%d",&a[i][j]);
	}//输入数据 
	int f=0;
	for(j=1;j<=n;j++)
	{
		int sum1=0,sum0=0;
		for(i=1;i<=n;i++)
		{
			if(a[i][j]==1)
			sum1++;
			else
			sum0++;
		}
		if(sum1>sum0)
		{
			if(f==0)
			{
				printf("%d",j);
				f=1;
			}
			else
			printf(" %d",j);
		}
	}
	return 0;
}

 

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