Si24R01在上电后首次指令失败的现象记录
硬件环境
- 单片机STM32F103C8T6;
- Si24R1采用的集芯微的大功率无线通信模块G01-SPIPX;
- 模块供电加10uF钽电容
软件环境
- 基与STM32 HAL库
- 开发软件IAR
基本代码
APPStatus_TypeDef NRF24L01_check( uint16_t tryT )
{
APPStatus_TypeDef rt = APP_OK;
uint8_t i;
uint8_t buf[5]={ 0XA5, 0XA5, 0XA5, 0XA5, 0XA5 };
uint8_t read_buf[ 5 ] = { 0 };
NRF24L01_Read_Buf( TX_ADDR, read_buf, 5 ); //读出地址
while( 1 )
{
NRF24L01_Write_Buf( TX_ADDR, buf, 5 ); //写入5个字节的地址
NRF24L01_Read_Buf( TX_ADDR, read_buf, 5 ); //读出写入的地址
for( i = 0; i < 5; i++ )
{
if( buf[ i ] != read_buf[ i ] )
{
rt = APP_ERR;
break;
}
}
if( 5 == i )
{
rt = APP_OK;
break;
}
else
{
tryT--;
if(0 == tryT)
{
rt = APP_TIMEOUT;
break;
}
}
#ifdef __IWDG_H__
HAL_IWDG_Refresh(&hiwdg);
#endif
HAL_Delay(1);
}
return rt;
}
奇怪现象
- 起初的代码中,在while(1)之前无NRF24L01_Read_Buf( TX_ADDR, read_buf, 5 ); ,现象是第一次写入地址,再读取。数据不匹配,说明写入和读取至少有一个出错了;
- 后来,在while(1)前加了NRF24L01_Read_Buf( TX_ADDR, read_buf, 5 ); ,测试能否读取。结果是
a. 新加的这个读取指令,读取失败;
b. 但!!! 后面的写入再读取地址的测试指令,第一次就可以通过了!!! - 还有个更离谱的,当我想用逻辑分析仪监测这种现象时的模块通信数据时,这种现象就不再出现。也就是说,代码中的第一次操作指令可以被正确的执行;
- 更、更、更离谱的还有,当我在第一个Si24R01的操作指令处打上断点,只要逻辑分析仪接上去一下,再断开接线,然后再从断点运行,该指令也能够正确执行。而无这个看似没有意义的接触,第一条操作指令总是失败。
临时解决办法
在真正要操作的Si24R01第一个操作指令前,加个Si24R01的空操作指令。
如下
APPStatus_TypeDef NRF24L01_check( uint16_t tryT )
{
APPStatus_TypeDef rt = APP_OK;
uint8_t i;
uint8_t buf[5]={ 0XA5, 0XA5, 0XA5, 0XA5, 0XA5 };
uint8_t read_buf[ 5 ] = { 0 };
NRF24L01_Nop(); /* 增加一个空指令,可有效避免首次指令失败 */
while( 1 )
{
NRF24L01_Write_Buf( TX_ADDR, buf, 5 ); //写入5个字节的地址
NRF24L01_Read_Buf( TX_ADDR, read_buf, 5 ); //读出写入的地址
for( i = 0; i < 5; i++ )
{
if( buf[ i ] != read_buf[ i ] )
{
rt = APP_ERR;
break;
}
}
if( 5 == i )
{
rt = APP_OK;
break;
}
else
{
tryT--;
if(0 == tryT)
{
rt = APP_TIMEOUT;
break;
}
}
#ifdef __IWDG_H__
HAL_IWDG_Refresh(&hiwdg);
#endif
HAL_Delay(1);
}
return rt;
}