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RSS订阅原创 ATE测试基础——功能测试项
通过对ADC输出进行大量采样，并绘制数据分布的直方图，可以直观地观察到量化误差的分布情况，从而对ADC的线性度、增益误差、偏移误差等关键性能指标进行定量分析，除此之外，我们还可以通过检查是否存在编码频次为零的情况来找出丢码现象。其实只需要把ADC测试中的数据流动方向反转，即可应用于DAC的测试。模拟电压生成设备通常由任意波形发生器（AWG）充当，它们能够提供精细的电压步进，以确保在待测ADC的每个LSB范围内都有足够的测试电压点，从而准确评估待测件的增益误差、失调误差、INL、DNL等关键静态性能指标。
2024-12-05 12:26:28
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原创 IIC通信协议——硬件IIC
IIC(Inter－Integrated Circuit)总线是一种由飞利浦（PHILIPS）公司开发的两线式串行通信总线结构，通常用于连接微控制器及其外围设备。IIC有着传输距离短，传输速率慢，适合在小数据量场合使用，支持多主多从等特性。IIC总线上可以连接多个主机和多个从机，任何一个能够进行发送和接收的设备都可以成为主机，能够控制信号传输和时钟频率。但任意时刻只能有一个主机和一个从机进行通信。IIC通信的典型速率在100kbps，高速模式下可达400kbps，超高速模式下可达1mbps。
2024-07-26 16:27:25
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原创 ATE测试基础——直流参数测试
芯片测试在发展过程中诞生了许多术语，初次接触的人大部分都会被绕晕。因此为方便广大读者理解，在开始介绍测试项之前，需要对测试领域的名词进行解释。还有部分较为抽象的内容，需要略作展开。DUT——Device Under Test，正在被测试的器件Pin——器件引脚，信号引脚分为输入，输出，三态和双向四类，负责与外界进行信息交互；电源引脚分为电源和地两类，结构与信号引脚不同，负责给器件内部运行和外部输出提供电平。输入：在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号输入通道;
2024-06-14 17:05:13
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原创 ATE测试基础——设备篇
ATE设备是连接工程师和芯片的桥梁，现代芯片测试都是通过ATE设备来进行的。设备是ATE测试的重中之重，是衡量一个芯片测试企业的最关键指标，它决定了芯片测试能力的上限。ATE工程师需要进行设备的开发和维护，还需要对ATE进行迭代更新以适应更加丰富和深入的芯片测试需求。
2024-06-13 14:55:17
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原创 ATE测试基础——概念篇
在电子信息领域，存在着一个故障成本十倍法则：芯片从出厂开始，到最终应用在工作的设备上，每在下一个应用阶段出现故障，成本都会增加十倍。例如雷达芯片，在封装好之后发现问题大不了扔掉换一个，焊在电路板上之后烧掉了也只是废一块板子；但要是在工作中的雷达模块里出现问题，可能就会酿成诸如车祸，坠机之类的大事故。因此，芯片越早排查故障，故障成本就越低，所以要在出厂前进行各种各样的测试以保证交货质量。
2024-06-12 17:04:18
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空空如也
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