USB-IF PD认证CC眼图测试Fail问题定位分析

无论是USB-IF还是欧盟的IEC PD认证中都会有CC眼图测试项目，PD Phy芯片原厂以及终端整机都会过相关认证，有时系统硬件或者软件设计不得当，会遇到CC眼图测试压住Mask情况，需要分析具体原因。

一、CC眼图Mask数据参数

上图为PD协议规范中，CC眼图各个位置电压具体数值，VOL<75mV，VOH<1.2V;

二、系统硬件配置

1、CC通路串阻影响

系统硬件设计中，包括手机或者平板，CC通路中有时会串联一个几Ω到100Ω左右的小电阻，用于防护使用，在和测试仪连接时，测试仪会在CC上灌入一个uA级别电流，通过小电阻时会产生几十mV压降，间接将眼图电平整体抬高，造成测试fail。针对此种情况，建议将该串联电阻阻值改小，可以有效改善CC电平整体被抬高的问题；

三、软件驱动影响

在测试流程中，PD Phy芯片和测试仪之间PD通信达成的供电能力和请求电流能力大概在100mA左右，但需要确认实际手机或者平板的Charger端抽取电流大小值，可以通过测试仪软件进行读取VBUS电流，例如下图中，VBUS抽流在Bist测试时达到1.5A左右，相对于PD通信达成的100mA电流，已经有15倍差异。
电流过大，会造成测试仪的GND与手机或者平板的PD Phy芯片周围的GND差异较大，造成眼图电平整体被抬高；如果眼图测试fail,需要确认VBUS实际抽流值。